[发明专利]电容传感器装置有效
| 申请号: | 201080021037.2 | 申请日: | 2010-05-12 |
| 公开(公告)号: | CN102439851A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
| 发明(设计)人: | J·K·雷诺;K·哈格里夫斯;S·沙帕尼亚;P·埃克 | 申请(专利权)人: | 辛纳普蒂克斯公司 |
| 主分类号: | H03K17/96 | 分类号: | H03K17/96;H03K17/955;G01L1/14 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 俞华梁;王忠忠 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电容 传感器 装置 | ||
1.一种电容传感器装置,包括:
第一传感器电极;
第二传感器电极;以及
处理系统,其与所述第一传感器电极和所述第二传感器电极相耦合,所述处理系统配置成:
通过利用所述第一传感器电极发射和接收第一电信号来获取第一电容测量,
通过发射和接收第二电信号来获取第二电容测量,其中所述第一及第二传感器电极其中之一执行所述发射且所述第一及第二传感器电极中的另一个执行所述接收,其中所述第一和第二电容测量是非退化的,以及
利用所述第一和第二电容测量确定第一位置信息。
2.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述处理系统配置成利用所述第一和第二电容测量通过下列步骤来确定第一位置信息:
利用所述第一和第二电容测量作出估计,其中所述估计具有所述第一传感器电极与输入对象和所述第二传感器电极其中之一之间的电容耦合,并且其中所述第一位置信息至少部分基于所述电容耦合的所述估计。
3.权利要求2的所述电容传感器装置,其中所述电容耦合是在所述第一传感器电极和所述输入对象之间,以及其中所述处理系统进一步配置成:
利用所述第一和第二电容测量作出第二估计,其中所述第二估计具有所述第一传感器电极和所述第二传感器电极之间的电容耦合。
4.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述处理系统进一步配置成:
利用所述第一和第二电容测量来确定所述输入对象的尺寸和类型中的至少一个。
5.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述处理系统配置成在第一时段内获取所述第一电容测量以及在不同于所述第一时段的第二时段内获取所述第二电容测量。
6.权利要求5的所述电容传感器装置,其中所述第二传感器电极是所述第一和第二传感器电极中的所述之一,其在所述第二时段内执行所述发射,并且其中所述处理系统进一步配置成:
在所述第一时段内相对于系统地来调制所述第二传感器电极,从而使得所述第二传感器电极电气保护所述第一传感器电极。
7.权利要求6的所述电容传感器装置,其中所述处理系统配置成在所述第一时段内通过下列步骤相对于系统地来调制所述第二传感器电极:
在所述第一时段内基本类似于所述第一传感器电极来调制所述第二传感器电极。
8.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述第一传感器电极是所述第一和第二传感器电极中执行所述发射的所述之一,并且其中所述处理系统配置成同时获取所述第一和所述第二电容测量。
9.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述第二传感器电极是所述第一和第二传感器电极中执行所述发射的所述之一,并且其中所述第二传感器电极的表面面积明显大于所述第一传感器电极的表面面积。
10.权利要求1的所述电容传感器装置,其中所述第一传感器电极沿第一轴对齐并且所述第二传感器电极沿不平行于所述第一轴的第二轴对齐。
11.权利要求1的所述电容传感器装置,进一步包括:
第三传感器电极,与所述处理系统相耦合;以及
第四传感器电极,与所述处理系统相耦合,其中所述处理系统进一步配置成:
通过利用所述第三传感器电极发射和接收第三电信号来获取第三电容测量,
通过发射和接收第四电信号来获取第四电容测量,其中所述第三及第四传感器电极其中之一执行所述发射且所述第三及第四传感器电极中的另一个执行所述接收,其中所述第三和第四电容测量是非退化的,以及
利用所述第三和第四电容测量确定第二位置信息。
12.一种利用电容传感器装置确定位置信息的方法,该电容传感器装置包括第一传感器电极和第二传感器电极,所述方法包括:
利用所述第一传感器电极发射和接收第一电信号来获取第一电容测量;
发射和接收第二电信号来获取第二电容测量,其中所述第一及第二传感器电极其中之一执行所述发射且所述第一及第二传感器电极中的另一个执行所述接收,并且其中所述第一和第二电容测量是非退化的;
利用所述第一和第二电容测量确定位置信息。
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