[发明专利]使用光学显微镜和粒子束显微镜的序列对对象进行显微检查有效
申请号: | 201080020680.3 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN102422198A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 克莉丝汀娜·汤玛士;托斯顿·西弗斯;亚利山大·特森 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司公司 |
主分类号: | G02B21/34 | 分类号: | G02B21/34;H01J37/00 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所 11264 | 代理人: | 刘俊 |
地址: | 德国奥*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 光学 显微镜 粒子束 序列 对象 进行 显微 检查 | ||
1.一种使用光学显微镜(10)和粒子束显微镜(12)的组合对对象(8)进行显微检查的载物片系统,其特征在于,该系统(1)包括:
导电支架(2),其中至少一个窗口(3;17、18)形成于该支架(2)中并且其中该支架(2)优选地具有用于光学显微镜(10)的标准玻璃载物片的尺度,
载物片元件(7;19),其形成为承载用于显微检查的对象(8)并且形成为布置在该窗口(3;17、18)上方,以及
紧固装置(5,6;22,25),其形成为用于将该载物片元件(7;19)固定在该窗口(3;17、18)上方。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,该支架(2)具有凹槽(16),该窗口(3;17、18)形成于该凹槽(16)内并且该载物片元件(7;19)可以被插入该凹槽(16),结果是放置在该窗口(3;17、18)上方的该载物片元件(7;19)定位为与该支架(2)的顶部相比更靠近该支架(2)的底部(4)。
3.根据上述权利要求任一项所述的系统,其特征在于,至少一个对齐标记(14;29)被提供在该支架(2)处,所述对齐标记可以利用光学显微镜(10)探测且也可以利用粒子束显微镜(12)探测。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,至少三个对齐标记(30)被提供在该支架(2)处,所述对齐标记固定用于该支架(2)的坐标系。
5.根据权利要求3或4所述的系统,其特征在于,每个对齐标记(30)形成为调适用于两种不同显微放大倍数的双重标记(31,32)。
6.根据上述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,该紧固装置包括连接到紧邻该窗口(3;17、18)的该支架(2)的至少一个夹持装置(22),用于将该载物片元件(7;19)固定在该窗口(3;17、18)上方。
7.根据上述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,该载物片元件形成为导电格栅(19)。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的系统,其特征在于,该载物片元件形成为盖玻片(7)。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,该紧固装置包括横靠该窗口(3)延伸的轨道(5,6),该盖玻片(7)可以被插入该轨道内并且因而放置在该窗口(3)上方。
10.根据权利要求8或9所述的系统,其特征在于,该系统包括透明膜(28),该膜的光学折射率匹配到该盖玻片(7)的折射率并且该膜保护该盖玻片(7)免受用于光学显微镜(10)的浸渍流体(11)影响,结果是所使用的该浸渍流体(11)可以通过剥离该膜(28)而移除。
11.根据权利要求10所述的系统,其特征在于,该膜(28)具有位于一侧上的粘合层,当该膜(28)从该盖玻片(7)剥离时该粘合层仍排它地粘接到该膜(28)。
12.根据权利要求10或11所述的系统,其特征在于,该膜(28)大于该窗口(3)。
13.根据权利要求8或9所述的系统,其特征在于,该系统(1)包括环(26),该环在其底部上具有橡胶唇状部,其中该环(27)的内部小于该盖玻片(7),结果是该环(26)可以布置在该盖玻片(7)上方以及供应到用于光学显微镜(10)的该盖玻片(7)的浸渍流体(11)可以通过该橡胶唇状部从该盖玻片(7)剥除。
14.根据上述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,提供适配器(33),该适配器具有用于将该适配器(33)固定到粒子束显微镜的接收装置的装配装置(34)并且在该适配器上形成支撑表面(35),该支撑表面包括用于将该支架(2)固定在该支撑表面(35)上的保持装置(36)。
15.根据权利要求14所述的系统,其特征在于,该适配器(33)具有位于该支撑表面(35)下方且位于该装配装置(34)上方的凹槽(37),用于引入粒子束探测器。
16.根据上述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,该支架(2)具有机械对齐装置,该机械对齐装置形成为对齐光学显微镜(10)和/或粒子束显微镜(12)中的该支架(2)。
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