[发明专利]组合式全景和计算x射线断层照相装置

权利要求书

1.一种以多种模式对对象进行x射线成像的组合式成像装置，所述成像装置包括具有延伸旋转臂的支撑结构，其中，所述旋转臂包括：

计算x射线断层照相检测仪和全景成像检测仪，二者均与可移动压盘相邻安装；以及

检测仪定位装置，其可致动以将所述可移动压盘的位置平移到相对于x射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处，

其中，所述第一位置将所述计算x射线断层照相检测仪布置在x射线源的直接路径中，并且其中，所述第二位置将所述全景成像检测仪布置在所述x射线源的所述直接路径中。

2.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算x射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪沿着所述可移动压盘的相同侧安装，并且所述可移动压盘的曲线形平移在与所述延伸旋转臂的长度大致正交的平面内。

3.如权利要求2所述的组合式成像装置，其中，通过一个或多个直线式致动器来提供曲线形平移。

4.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算x射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪沿着所述可移动压盘的相对侧安装，并且所述可移动压盘在所述第一位置和所述第二位置之间的平移是相对于与所述延伸旋转臂的长度大致正交的轴的旋转。

5.如权利要求1所述的组合式成像装置，进一步包括与所述可移动压盘间隔开的头测量检测仪，其中，所述检测仪定位装置进一步可致动以将所述可移动压盘的位置平移到第三位置，所述第三位置将所述计算x射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪平移出所述x射线源的所述直接路径。

6.如权利要求5所述的组合式成像装置，其中，所述计算x射线断层照相检测仪、所述全景检测仪和所述头测量检测仪中的至少一个为计算射线照相检测仪。

7.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算x射线断层照相检测仪和全景检测仪中的至少一个为数字式检测仪。

8.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算x射线断层照相检测仪和全景检测仪中的至少一个使用敏化膜。

9.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述检测仪中的一个或多个为面积检测仪。

10.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述头测量检测仪也安装到所述旋转臂上。

11.一种由相同的成像装置提供对象的计算x射线断层照相、全景成像和头测量成像的方法，包括：

设置包括延伸旋转臂的支撑结构，所述延伸旋转臂具有检测仪定位装置和安装到所述检测仪定位装置上的x射线源；

将所述检测仪定位装置配置到三个位置中的一个，所述三个位置将或为计算x射线断层照相或为全景的选定检测仪或者处于未受阻碍的成直线关系的头测量检测仪布置到所述x射线源，所述x射线源安装到所述延伸旋转臂上；以及

为所述x射线源供给能量以在所述选定检测仪中获得图像。

12.如权利要求11所述的方法，其中，配置所述检测仪定位装置包括相对于轴旋转所述检测仪中的两个。

13.如权利要求11所述的方法，其中，配置所述检测仪定位装置包括沿着与所述延伸旋转臂正交的方向平移一个或多个检测仪。

14.一种用于对对象进行x射线断层照相、全景成像和头测量成像的组合式成像装置，所述装置包括x射线源和具有延伸旋转臂的支撑结构，其中，所述旋转臂包括：

头测量检测仪，其安装到所述旋转臂上距所述x射线源第一距离Od；以及

检测仪定位装置，其安装到所述x射线源和所述头测量检测仪之间的所述旋转臂并且可调节至第一配置、第二配置和第三配置；

其中，所述第一配置将计算x射线断层照相检测仪布置在沿着曝光路径以第二距离Ob与所述x射线源成直线的未受阻碍位置；

其中，所述第二配置将全景检测仪布置在沿着所述曝光路径以第三距离Oc与所述x射线源成直线的未受阻碍位置；并且

其中，所述第三配置使所述计算x射线断层照相检测仪和所述全景检测仪移位而远离所述曝光路径，从而将所述头测量检测仪布置在沿着所述曝光路径与所述x射线源成直线的未受阻碍位置。