[发明专利]用于对X射线生成设备的焦斑进行负荷相关尺寸调整的方法和设备

权利要求书

1.一种用于对X射线生成设备(2)的焦斑进行负荷相关尺寸调整的方法(10)，所述方法包括：

确定(11)负荷条件，其中，所述焦斑的尺寸能够至少部分基于所述负荷条件而自动调整。

2.如权利要求1所述的方法，还包括

确定所述焦斑的第一温度和/或确定(12)所述焦斑的第二温度。

3.如权利要求1或2所述的方法，

其中，所述负荷条件至少部分基于所述X射线生成设备(2)的操作和/或所述第一温度。

4.如权利要求1至3之一所述的方法，

其中，所述负荷条件指示所述X射线生成设备(2)的所述操作之后的所述焦斑的第二温度。

5.如权利要求1至4之一所述的方法，

其中，通过包括以下的组中的至少一个来确定所述第一温度和/或所述第二温度：热力学模型、温度模型、光学测量、热电子发射、确定的剂量产量和所述负荷条件。

6.如权利要求1至5之一所述的方法，

其中，调整所述焦斑的尺寸包括包含以下的组中的至少一个：扩大所述焦斑的尺寸、减小所述焦斑的尺寸、将所述焦斑重新变形、改变焦斑的长度和宽度的长宽比。

7.如权利要求1至6之一所述的方法，

其中，所述焦斑的尺寸能够在所述X射线生成设备(2)的所述操作之前和/或期间调整。

8.如权利要求1至6之一所述的方法，

其中，归因于在操作期间的所述焦斑的当前温度和/或归因于在操作期间超出预定负荷条件，在所述X射线生成设备(2)的所述操作期间扩大所述焦斑的尺寸，以便避免所述X射线生成设备(2)的劣化。

9.如权利要求1至8之一所述的方法，

其中，归因于对所述焦斑的所述第一温度、所述焦斑的所述第二温度和/或所述X射线生成设备(2)的操作期间的所述负荷条件的评估，在所述X射线生成设备(2)的所述操作之前减小所述焦斑的尺寸。

10.如权利要求1至9之一所述的方法，

其中，所述焦斑的尺寸能够连续地和/或间断地调整。

11.一种X射线生成设备(2)，包括

阴极元件(5)；

阳极元件(4)；

其中，可操作地耦合所述阴极元件(5)和所述阳极元件(4)以用于生成X射线(9)；并且

其中，焦斑的尺寸能够至少部分基于负荷条件而自动调整。

12.一种X射线系统(1)，包括

根据权利要求10所述的X射线生成设备(2)；以及

X射线探测器(3)；

其中，对象能够安置于所述X射线生成设备(2)和所述X射线探测器(3)之间；

其中，可操作地耦合所述X射线生成设备(2)和所述X射线探测器(3)从而能够获得所述对象(6)的X射线图像；并且

其中，所述X射线系统适于执行根据权利要求1-10中的至少一项所述的方法。

13.如权利要求12所述的X射线系统，还包括

用于确定所述焦斑的第一温度、所述焦斑的当前温度和/或所述焦斑的第二温度的温度确定元件。

14.一种计算机可读介质，其中存储着用于对X射线生成设备的焦斑进行负荷相关尺寸调整的计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，其适于执行根据权利要求1-10中的至少一项所述的方法。

15.一种用于对X射线生成设备的焦斑进行负荷相关尺寸调整的程序元件，当所述程序元件被处理器执行时，其适于执行根据权利要求1-10中的至少一项所述的方法。