[发明专利]成像装置和成像系统及其控制方法和程序

说明书

技术领域

本发明涉及成像装置和成像系统及其控制方法和程序。更具体而言，本发明涉及放射线成像装置和放射线成像系统及其控制方法和程序，其优选用于医疗诊断中的诸如放射线照相术(radiography)的静止图像放射线照相和诸如荧光透视(fluoroscopic)成像的运动图像放射线照相。注意，根据本发明的术语放射线应不仅包含作为由通过放射性衰减而释放的粒子(包含光子)组成的射束(beam)的α放射线、β放射线和γ放射线，而且包含诸如X射线、粒子放射线和宇宙射线的具有相同或更多能量的射束。

背景技术

近年来，作为用于使用X射线的医疗图像诊断和非破坏性检查中的成像装置，使用由半导体材料形成的平板检测器(FPD)的放射线成像装置已投入实际应用。例如，在医疗图像诊断中，放射线成像装置已被用作用于诸如放射线照相术的静止图像放射线照相和诸如荧光透视成像的运动图像放射线照相的数字成像装置。

关于这样的放射线成像装置，专利引文1研究了能够切换FPD读取区域(视场的尺寸)和X射线照射区域的放射线成像装置。但是，当进行切换以加宽照射区域时，暗状态下的输出和像素灵敏度在FPD的照射区域和非照射区域之间不同。因此，在获取的图像中出现受照射区域影响的幻像(ghost)(图像的阶跃(step))，这可导致图像质量的劣化。

为了避免这样的受照射区域影响的幻像，专利引文2研究了执行图像处理以用于校正。具体而言，基于通过均匀照射获得的幻像数据，对于各X射线照射条件计算幻像校正系数。幻像校正系数被用于获取所需的幻像校正系数，该所需的幻像校正系数与当收集关于作为照射区域的检查对象的目标部分的数据时的X射线照射条件和从X射线照射的开始经过的时间对应。然后，通过利用所需的幻像校正系数校正关于检查对象的目标部分的数据，产生校正图像数据。

专利引文1：日本专利申请公开No.H11-128213

专利引文2：日本专利申请公开No.2008-167846

发明内容

技术问题

但是，专利引文2中公开的校正技术使用图像处理以用于校正，并因此涉及复杂的参数管理和校正处理，由此使整个装置复杂化。另外，事先需要用于校正的数据获取，从而导致复杂的操作。并且，为了获得稳定的图像质量，对于数据收集方法需要具有严格管理，从而导致管理困难。并且，校正技术不降低导致以上幻像并包含于从FPD获得的图像信号中的残像量(after-image quantity)本身，并因此难以在各种环境下获得最佳的效果。

问题的解决方案

本发明的发明人已进行了积极研究，以提供如下的成像装置和系统：该成像装置和系统可减少会在获得的图像中出现并受照射区域影响的图像的阶跃，并且可防止图像质量的明显劣化，而不执行复杂的图像处理。作为积极研究的结果，发明人已设想出如下所述的实施例。

根据本发明的一个方面，一种成像装置包括：检测器，包括以矩阵布置的多个像素，其中，像素中的每一个包括用于将放射线或光转换成电荷的转换元件，使得检测器执行用于输出基于放射线或光的照射的图像数据的成像操作；以及控制器单元，用于控制包括成像操作的检测器的操作，其中，成像操作包括第一成像操作和第二成像操作，第一成像操作用于输出基于与所述多个像素的一部分对应的检测器的第一照射场(irradiation field)上光或放射线的照射的图像数据，第二成像操作用于输出基于面积比第一照射场大的第二照射场上光或放射线的照射的图像数据，以及，控制器单元控制检测器单元的操作，使得检测器在由运算操作确定的积累时段期间执行第二成像操作中的积累操作，所述运算操作基于与第一成像操作期间的放射线或光的积分剂量有关的信息，用于将图像的阶跃抑制在预定的可容许量或更小内。