[发明专利]用于进行轮廓描绘的自动对比度增强有效

专利信息
申请号: 201080015587.3 申请日: 2010-02-18
公开(公告)号: CN102369555A 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: H·舒尔茨;D·贝斯特罗夫 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 进行 轮廓 描绘 自动 对比度 增强
【权利要求书】:

1.一种用于进行轮廓描绘的自动对比度增强的方法,其包括:

显示(220)待分析的体积图像切片;

接收(230)对所述体积图像切片中的靶标解剖结构的描画;

基于在所述体积图像切片中被描画的区域识别(240)感兴趣区;

分析(250)所述感兴趣区中的体素强度值;以及

基于所述体素强度值确定(260)适当的窗位设置。

2.根据权利要求1所述的方法,其还包括:

基于所述适当的窗位设置调整(270)当前的窗位设置。

3.根据权利要求1所述的方法,其还包括:

在存储器中存储(210)一系列体积图像,其中,所述体积图像切片是该系列体积图像之一。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,自动确定从一个体积图像切片到另一个体积图像切片的适当的窗位设置。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,在描画所述靶标解剖结构时连续地识别所述感兴趣区,分析所述感兴趣区的所述体素强度值并确定所述适当的窗位设置。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,分析所述体素强度值包括形成强度直方图。

7.根据权利要求1所述的方法,其还包括:

在存储器中存储(280)被完全描画的图像切片。

8.根据权利要求1所述的方法,其还包括:

基于被描画的一系列图像切片对所述靶标解剖结构进行轮廓描绘(290),所述被描画的一系列图像切片包括被完全描画的图像切片。

9.一种系统,其包括:

显示器(104),其显示待分析的体积图像切片;

用户接口(106),其能够接收对所述体积图像切片中的靶标解剖结构的用户描画;以及

处理器(102),其基于所述用户描画识别感兴趣区,且分析所述感兴趣区的体素强度值以确定适当的窗位设置。

10.根据权利要求9所述的系统,所述处理器(102)基于所述适当的窗位设置调整当前的窗位设置。

11.根据权利要求10所述的系统,其还包括在存储器中存储一系列体积图像的存储器(108),其中,所述体积图像切片是该系列体积图像之一。

12.根据权利要求10所述的系统,其中,所述存储器(108)存储被完全描画的体积图像切片。

13.根据权利要求9所述的系统,其中,所述处理器(102)自动确定从一个体积图像切片到另一个体积图像切片的适当的窗位设置。

14.根据权利要求9所述的系统,其中,所述处理器(102)在所述靶标解剖结构被描画时连续地识别所述感兴趣区,分析所述感兴趣区的所述体素强度值并确定所述适当的窗位设置。

15.根据权利要求9所述的系统,其中,所述处理器(102)形成强度直方图以分析所述体素强度值。

16.根据权利要求9所述的系统,其中,所述处理器(102)基于被描画的一系列图像切片对所述靶标解剖结构进行轮廓描绘,所述被描画的一系列图像切片包括被完全描画的图像切片。

17.根据权利要求9所述的系统,其中,所述用户接口包括触摸感应屏。

18.一种计算机可读存储介质,其包括能由处理器(102)执行的指令集,所述指令集用于:

显示(220)待分析的体积图像切片;

接收(230)对所述体积图像切片中的靶标解剖结构的描画;

基于在所述体积图像切片中被描画的区域识别(240)感兴趣区;

分析(250)所述感兴趣区中的体素强度值;以及

基于所述体素强度值确定(260)适当的窗位设置。

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