[发明专利]等离子体处理装置及使用其的非晶硅薄膜的制造方法有效
申请号: | 201080013695.7 | 申请日: | 2010-03-15 |
公开(公告)号: | CN102362337A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 坂本桂太郎;野村文保;小森常范 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L31/04 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 使用 非晶硅 薄膜 制造 方法 | ||
1.一种等离子体处理装置,包括:
(a)真空容器;
(b)等离子体生成电极,所述等离子体生成电极设置于所述真 空容器的内部;
(c)基板保持机构,所述基板保持机构用于保持基板,所述基 板位于所述真空容器的内部并与所述等离子体生成电极隔着间隔相 对;
(d)气体排出装置,所述气体排出装置用于将所述真空容器的 内部保持在减压状态,所述气体排出装置开口于气体排出室且与所 述真空容器连接,所述气体排出室位于所述真空容器的内部并形成 于所述等离子体生成电极和所述真空容器的内壁面之间;
(e)电源,所述电源与所述等离子体生成电极连接,向所述等 离子体生成电极供给电力;及
(f)气体导入管,所述气体导入管与所述真空容器连接,用于 将等离子体处理用的原料气体导入到所述真空容器的内部,
其中,
(g)所述等离子体生成电极具有多个气体排出孔,在基板被所 述基板保持机构保持时,所述气体排出孔从与所述基板相对的面贯 通所述等离子体生成电极至所述气体排出室;
(h)与所述气体导入管连接设置的气体供给管具有气体供给 口,所述气体供给口朝向所述多个气体排出孔的内部,排出所述原 料气体;
(i)所述气体供给管及所述气体供给口如下设置,即,使从所 述气体供给口排出的所述原料气体的流动方向的延长线与位于所述 气体排出孔与所述气体排出室的边界面处的端面开口区域交叉。
2.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其中,所述气体排 出室设置于所述等离子体生成电极的内部。
3.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其中,所述气体供 给口开口于所述气体排出孔的内壁面。
4.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其中,所述气体供 给管及所述气体供给口位于所述气体排出孔的内部。
5.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其中,设有等离子 体封入电极,在基板被所述基板保持机构保持时,所述等离子体封 入电极以相对于与所述基板相对的所述等离子体生成电极的面大致 平行、并隔着间隔的方式设置,所述等离子体封入电极在与所述等 离子体生成电极的多个气体排出孔相对应的位置上具有贯通孔。
6.如权利要求5所述的等离子体处理装置,其中,所述气体供 给口开口于所述等离子体封入电极的所述贯通孔的内壁面。
7.如权利要求5所述的等离子体处理装置,其中,所述气体供 给管及所述气体供给口位于所述等离子体封入电极的所述贯通孔的 内部。
8.如权利要求5所述的等离子体处理装置,其中,所述等离子 体封入电极具有等离子体封入电极加热机构,在所述等离子体封入 电极的内部设置有气体缓冲空间。
9.如权利要求1所述的等离子体处理装置,其中,所述等离子 体处理装置中的等离子体处理为化学气相沉积(CVD)。
10.一种非晶硅薄膜的制造方法,所述方法为:使用权利要求1~ 9中任一项所述的等离子体处理装置,利用所述等离子体处理装置中 的所述气体排出装置将所述真空容器内维持在减压状态,从所述气 体导入管导入含有硅烷的原料气体,由所述电源向所述等离子体生 成电极供给用于产生等离子体的电力,利用由所述等离子体生成电 极生成的等离子体分解所述原料气体,在所述基板上形成非晶硅薄 膜。
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