[发明专利]膜张力测定装置有效

专利信息
申请号: 201080005710.3 申请日: 2010-01-21
公开(公告)号: CN102301215A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 大森博司;陈商煌;石津信彦;武田文义;藤原淳 申请(专利权)人: 国立大学法人名古屋大学;太阳工业株式会社
主分类号: G01L5/10 分类号: G01L5/10
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 张力 测定 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种膜张力测定装置,其通过音波使膜体发生振动,从而测定施加于该膜体的张力。

背景技术

关于具有膜结构的建筑物,例如可列举棒球场、体育馆、展示馆等。此处,作为所述膜结构的主体的膜体在其自由状态下具有可挠性。因此,当该建筑物竣工时,相同的张力(N/cm)作为初始负荷沿着面方向施加于该膜结构中的膜体,由此,膜体保持为预定形状(保持形状),并且被给予不会因风、雪等负荷而容易变形的刚性。

然而,建筑物竣工后,随着时间流逝,所述膜体通常会在其面方向上变得松弛。由于变得松弛,由所述张力使膜体产生的内部应力降低,即,所述张力降低。若因该张力降低而所述膜体变得过度松弛,则有可能会产生颤振(fluttering)或积水之类的不良,这不是所希望的。

因此,建筑物竣工后,每当经过预定时间获知施加于膜体的张力,对于长期适当地维护膜体而言是较为重要的。因此,如下述专利文献1所示,可测定所述张力的膜张力测定装置已为人所知。

专利文献1:特开2002-90238号公报

依据所述专利文献1,膜张力测定装置包括:矩形框体,其与施加有相同张力的膜体的膜面抵接;音波产生装置,其朝被所述框体包围的所述膜体的一部分发出音波;振动检测装置,其检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动;及运算装置,其基于所述振动检测装置所检测的振动数据计算所述张力。

当使用所述膜张力测定装置进行测定膜体张力的作业时,首先,使框体抵接于所述膜体的膜面。其次,通过所述音波产生装置朝被所述框体包围的膜体的一部分产生音波。如此,所述膜体的一部分由于该音波而发生振动,该振动被所述振动检测装置检测出。从而,基于该振动检测装置所检测出的振动检测数据,通过所述运算装置确定所述膜体的一部分的共振(固有)频率,依据该共振频率计算并输出所述张力。结果,可获知所述张力,由此,可适当地维护所述膜体。

然而,在所述专利文献1的膜张力测定装置中,彼此独立地设置有框体、音波产生装置、振动检测装置以及运算装置。因此,若想通过所述膜张力测定装置进行张力的测定作业,则测定者需要分别独立地支持所述各构成部件。然而,这样一来,尤其在建筑物等高处或落脚处不佳的位置的测定作业有可能会变得烦杂,因此,尚存在改善的余地。

发明内容

本发明的目的在于提供一种膜体的张力测定作业容易的膜张力测定装置。

本发明一个方面涉及的膜张力测定装置包括:矩形框体,其能够与施加有张力的膜体的膜面抵接;音波产生装置,其朝由所述框体包围的所述膜体的一部分发出音波;振动检测装置,其检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动;及运算装置,其基于所述振动检测装置所检测出的振动数据计算所述张力,其中,所述音波产生装置、振动检测装置以及运算装置分别安装于所述框体。

附图说明

图1是本发明的实施方式所涉及的膜张力测定装置的俯视图。

图2是所述膜张力测定装置的主视图。

图3是所述膜张力测定装置的侧视图。

图4是所述膜张力测定装置的电气方块图。

图5是表示所述膜张力测定装置的控制流程的图。

图6是所述膜张力测定装置进行的张力测定作业的时序图。

具体实施方式

作为本发明的实施方式的膜张力测定装置包括:矩形框体,其能够与施加有均匀张力的膜体的膜面抵接;音波产生装置,其朝由所述框体包围的所述膜体的一部分发出音波;振动检测装置,其检测所述膜体的一部分因所述音波而产生的振动;及运算装置,其基于所述振动检测装置所检测出的振动数据计算所述张力。所述音波产生装置、振动检测装置以及运算装置分别安装于所述框体。

以下,一面参照附图,一面详细说明本发明的实施方式。

在图1~图3中,符号1为具有膜结构的建筑物1。该建筑物1的膜结构(天遮(tent))中的膜体2沿著水平方向延伸。

可作为本实施方式的膜张力测定装置的测定对象的膜体2并无特别限定,只要其是由树脂或橡胶制成的薄膜或薄片状物,即可由本装置进行测定。薄膜或薄片也可是将树脂或橡胶覆盖于由纺织物或编织物构成的基材上而得到的物品。

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