[发明专利]高分子片材及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201080005303.2 申请日: 2010-01-21
公开(公告)号: CN102292204A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 彦坂正道;冈田圣香;渡边香织;鹫山润一郎;木村秀治;山田浩司;中岛武;大坪彰博 申请(专利权)人: 桑奥乐默株式会社
主分类号: B29C47/88 分类号: B29C47/88;B29C47/14;C08J5/18;B29L7/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 武晶晶;郑霞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 高分子 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高分子片材,其以高分子纳米晶体为主体,其特征在于,

可以满足下述(I)、(II)和(III)的条件,即:

(I)结晶度为70%以上;

(II)拉伸破坏强度为100MPa以上,且拉伸弹性率为3GPa以上;

(III)平均厚度为0.15mm以上。

2.如权利要求1所述的高分子片材,其中,

所述高分子为聚烯烃。

3.如权利要求1所述的高分子片材,其中,

所述高分子为聚丙烯。

4.如权利要求3所述的高分子片材,其中,

通过试样尺寸直读法测定的耐热温度为160℃以上。

5.如权利要求1~4中任一项所述的高分子片材,其中,

通过雾度(透明性)测定法测定的雾度值(厚度0.3mm)为10%以下。

6.如权利要求3~5中任一项所述的高分子片材,其中,

含有由平行排列的纳米取向晶体构成的直径300nm以下的棒状高次结构。

7.如权利要求3~6中任一项所述的高分子片材,其中,

在晶体结构中,含有α2分率为0.3以上的纳米取向晶体,所述α2分率表示高有序度相即α2相的体积分率。

8.如权利要求3~7中任一项所述的高分子片材,其中,

所述高分子片材含有取向函数fc为0.7以上的纳米取向晶体,所述取向函数fc表示晶体内高分子链的取向度。

9.如权利要求1~8中任一项所述的高分子片材,其中,

如下制造所述高分子片材,即,将过冷状态下的高分子的熔体夹在一对夹持轧辊,以临界伸长应变速度以上的伸长应变速度进行轧制伸长,并使其结晶化。

10.如权利要求9所述的高分子片材,其中,

当将所述夹持轧辊的半径设为R、将轧制伸长后的高分子片材的平均厚度设为L、将夹持轧辊的片材引出速度设为V、将片材厚度方向的平均伸长应变速度设为ε(R,L,V)时,

通过以片材厚度方向的平均伸长应变速度ε(R,L,V)为临界伸长应变速度ε*(R,L,V)以上的方式使用下述近似式(式i)设定夹持轧辊的半径R、轧制伸长后的高分子片材的平均厚度L、及夹持轧辊的片材引出速度V,制造高分子片材。

(式i)

[数1]

ϵ(R,L,V)=VRL]]>

11.如权利要求10所述的高分子片材,其中,

所述临界伸长应变速度ε*(R,L,V)用下述近似式(式ii)算出:

(式ii)

[数2]

ϵ*(R,L,V)=V*RL]]>

其中,所述临界点的片材引出速度V*是供给过冷状态下的高分子熔体,通过夹在半径为R的一对夹持轧辊并将该高分子的熔体以片材引出速度V进行轧制伸长,使其向由纳米取向晶体构成的厚度L的高分子片材进行结晶化时结构完全改变的临界点的片材引出速度V。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桑奥乐默株式会社,未经桑奥乐默株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080005303.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top