[发明专利]高分子片材及其制造方法有效
| 申请号: | 201080005303.2 | 申请日: | 2010-01-21 | 
| 公开(公告)号: | CN102292204A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 | 
| 发明(设计)人: | 彦坂正道;冈田圣香;渡边香织;鹫山润一郎;木村秀治;山田浩司;中岛武;大坪彰博 | 申请(专利权)人: | 桑奥乐默株式会社 | 
| 主分类号: | B29C47/88 | 分类号: | B29C47/88;B29C47/14;C08J5/18;B29L7/00 | 
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 武晶晶;郑霞 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高分子 及其 制造 方法 | ||
1.一种高分子片材,其以高分子纳米晶体为主体,其特征在于,
可以满足下述(I)、(II)和(III)的条件,即:
(I)结晶度为70%以上;
(II)拉伸破坏强度为100MPa以上,且拉伸弹性率为3GPa以上;
(III)平均厚度为0.15mm以上。
2.如权利要求1所述的高分子片材,其中,
所述高分子为聚烯烃。
3.如权利要求1所述的高分子片材,其中,
所述高分子为聚丙烯。
4.如权利要求3所述的高分子片材,其中,
通过试样尺寸直读法测定的耐热温度为160℃以上。
5.如权利要求1~4中任一项所述的高分子片材,其中,
通过雾度(透明性)测定法测定的雾度值(厚度0.3mm)为10%以下。
6.如权利要求3~5中任一项所述的高分子片材,其中,
含有由平行排列的纳米取向晶体构成的直径300nm以下的棒状高次结构。
7.如权利要求3~6中任一项所述的高分子片材,其中,
在晶体结构中,含有α2分率为0.3以上的纳米取向晶体,所述α2分率表示高有序度相即α2相的体积分率。
8.如权利要求3~7中任一项所述的高分子片材,其中,
所述高分子片材含有取向函数fc为0.7以上的纳米取向晶体,所述取向函数fc表示晶体内高分子链的取向度。
9.如权利要求1~8中任一项所述的高分子片材,其中,
如下制造所述高分子片材,即,将过冷状态下的高分子的熔体夹在一对夹持轧辊,以临界伸长应变速度以上的伸长应变速度进行轧制伸长,并使其结晶化。
10.如权利要求9所述的高分子片材,其中,
当将所述夹持轧辊的半径设为R、将轧制伸长后的高分子片材的平均厚度设为L、将夹持轧辊的片材引出速度设为V、将片材厚度方向的平均伸长应变速度设为ε(R,L,V)时,
通过以片材厚度方向的平均伸长应变速度ε(R,L,V)为临界伸长应变速度ε*(R,L,V)以上的方式使用下述近似式(式i)设定夹持轧辊的半径R、轧制伸长后的高分子片材的平均厚度L、及夹持轧辊的片材引出速度V,制造高分子片材。
(式i)
[数1]
11.如权利要求10所述的高分子片材,其中,
所述临界伸长应变速度ε*(R,L,V)用下述近似式(式ii)算出:
(式ii)
[数2]
其中,所述临界点的片材引出速度V*是供给过冷状态下的高分子熔体,通过夹在半径为R的一对夹持轧辊并将该高分子的熔体以片材引出速度V进行轧制伸长,使其向由纳米取向晶体构成的厚度L的高分子片材进行结晶化时结构完全改变的临界点的片材引出速度V。
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