[发明专利]立体图像拾取装置有效
申请号: | 201080003915.8 | 申请日: | 2010-11-22 |
公开(公告)号: | CN102318331A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 星野谦治 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;G02B7/02;G03B35/08;H04N5/232;H04N13/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陆锦华;刘光明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 立体 图像 拾取 装置 | ||
1.一种立体图像拾取装置,包括:
多个图像拾取单元,每一个图像拾取单元包括:
拍摄光学系统;以及
图像拾取元件,所述图像拾取元件使经由所述拍摄光学系统形成的被摄体图像经历光电转换,所述多个图像拾取单元拾取在所述多个图像拾取单元之间具有视差的多个图像;
第一存储单元,所述第一存储单元在其中存储针对多个图像拾取模式中的每一个设置的畸变校正公式,所述畸变校正公式具有对于所述多个图像拾取模式中的每一个而不同的校正精度;
畸变校正公式获取单元,所述畸变校正公式获取单元从存储在所述第一存储单元中的所述畸变校正公式中获取与当前图像拾取模式相对应的畸变校正公式;
第二存储单元,所述第二存储单元在其中存储包括在所述多个图像拾取单元中的每个拍摄光学系统的预先检测到的光轴偏离量,所述光轴偏离量已经经历了使用针对所述多个图像拾取模式中的每一个设置的所述畸变校正公式的畸变校正;
光轴偏离量获取单元,所述光轴偏离量获取单元基于下述来获取与所述当前图像拾取模式相对应的光轴偏离量:存储在所述第二存储单元中的每个拍摄光学系统的光轴偏离量;以及所述当前图像拾取模式;
图像拾取控制单元,所述图像拾取控制单元根据所述当前图像拾取模式来从所述多个图像拾取单元获取所述多个图像;
畸变校正单元,所述畸变校正单元基于与所述当前图像拾取模式相对应地由所述畸变校正公式获取单元所获取的畸变校正公式,来对由所述图像拾取控制单元所获取的所述多个图像执行畸变校正;以及
图像切出单元,所述图像切出单元基于与所述当前图像拾取模式相对应地由所述光轴偏离量获取单元获取的所述光轴偏离量,来对由所述图像拾取控制单元获取的所述多个图像执行用于立体显示的图像的切出处理。
2.根据权利要求1所述的立体图像拾取装置,还包括:变焦位置检测单元,所述变焦位置检测单元检测所述多个拍摄光学系统中的每一个的当前变焦位置,其中:
所述第一存储单元在其中存储根据每个拍摄光学系统的变焦位置的畸变校正公式;并且
所述畸变校正公式获取单元从所述第一存储单元中获取与所述当前图像拾取模式和每个拍摄光学系统的所述当前变焦位置相对应的畸变校正公式。
3.根据权利要求1或2所述的立体图像拾取装置,其中:
所述第二存储单元在其中存储根据所述多个拍摄光学系统中的每一个的变焦位置的每个拍摄光学系统的光轴偏离量;并且
所述光轴偏离量获取单元根据所述当前图像拾取模式和每个拍摄光学系统的所述当前变焦位置来从所述第二存储单元中获取对应的光轴偏离量。
4.根据权利要求2或3所述的立体图像拾取装置,其中:
所述第二存储单元根据每个图像拾取模式和变焦位置来在其中存储使用与每个图像拾取模式和每个拍摄光学系统的所述变焦位置相对应的畸变校正公式的畸变校正之后的光轴偏离量,作为每个拍摄光学系统的光轴偏离量;并且
所述光轴偏离量获取单元包括读出单元,所述读出单元根据所述当前图像拾取模式和所述当前变焦位置来从所述第二存储单元中读出对应的光轴偏离量。
5.根据权利要求2或3所述的立体图像拾取装置,其中:
所述第二存储单元根据每个拍摄光学系统的变焦位置来在其中存储所述畸变校正之前的光轴偏离量,作为每个拍摄光学系统的光轴偏离量;并且
所述光轴偏离量获取单元包括计算单元,所述计算单元将基于所述当前变焦位置从所述第二存储单元中读出的光轴偏离量代入与所述当前图像拾取模式相对应并且由所述畸变校正公式获取单元获取的畸变校正公式中,以由此计算所述畸变校正之后的光轴偏离量。
6.根据权利要求2或3所述的立体图像拾取装置,其中:
所述第二存储单元针对每个图像拾取模式在其中存储用于计算使用与每个图像拾取模式和每个拍摄光学系统的变焦位置相对应的畸变校正公式的畸变校正之后的光轴偏离量的信息,作为每个拍摄光学系统的所述光轴偏离量;并且
所述光轴偏离量获取单元包括计算单元,所述计算单元基于下述来计算对应的光轴偏离量:根据所述当前图像拾取模式从所述第二存储单元中读出的信息;以及当前变焦位置。
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