[发明专利]显示装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201080003605.6 申请日: 2010-05-13
公开(公告)号: CN102326193A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 白水博;田鹿健一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G09F9/30 分类号: G09F9/30;G09F9/00;H01L27/32
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 周春燕;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及显示装置及其制造方法,尤其涉及具有可以修正的像素结构的显示装置及其制造方法。

背景技术

作为使用了电流驱动型的发光元件的图像显示装置,已知使用了有机电致发光元件(以下,记为有机EL元件)的有机EL显示器。该有机EL显示器因为具有视角特性优良、功耗低的优点,所以作为下一代的FPD(Flat Panel Display,平板显示器)候选而受到关注。

通常,构成像素的有机EL元件配置为矩阵状。例如,在有源矩阵型的有机EL显示器中,在多条扫描线与多条数据线的交点处设置薄膜晶体管(TFT:Thin Film Transistor),在该TFT上连接保持电容元件(电容器)及驱动晶体管的栅。而且,通过所选择的扫描线使该TFT导通,将来自数据线的数据信号输入至驱动晶体管及保持电容元件,并通过该驱动晶体管及保持电容元件对有机EL元件的发光定时进行控制。通过该像素驱动电路的结构,在有源矩阵型的有机EL显示器中,因为可以使有机EL元件发光至下次扫描(选择),所以即使占空比提高也不会引起显示器的辉度降低。但是,在如以有源矩阵型的有机EL显示器为代表地,发光像素的驱动电路结构变得越复杂、此外发光像素数越增加,越需要精细加工的制造工序中,会产生电路元件和/或布线的短路和/或开路的电不良状况。

尤其是,在有机EL面板中,构成像素驱动电路的保持电容元件的元件面积相对宽阔。因而,该保持电容元件,容易受存在于电极间的微粒等的影响,由于发生短路不良而成为使像素不良率升高的主要原因。

另一方面,有人提出在像素驱动电路元件和/或布线的形成之后,对发生了不良状况的发光像素进行修正的方法。在专利文献1中,为了对由于电路元件的短路等始终成为发光状态而辉点化的不良发光像素进行修正,在全部发光像素区域,设置与其他导电部及布线分离而连接的非重叠部。关于不良发光像素,通过对该非重叠部照射激光,而切断该非重叠部。由此,不良像素被切断电信号的传输,而且,不会受到由激光照射引起的损伤而灭点化。

此外,在专利文献2中,形成于各发光像素的发光区域的像素电极采取多个单元连接起来的结构,通过将其连接位置的一部分用激光切断,仅将不良的发光单元电绝缘而灭点化。

专利文献1:特开2008-203636号公报

专利文献2:特开2007-66904号公报

发明内容

要达到由发光像素数的增加引起的像素电路的高密度化以应对显示面板的高精细化,尤其需要在对面积比例高的保持电容元件的布局设计下功夫。对此,使保持电容元件共用作为原本功能的电容保持功能和对各电路元件进行连接的电路布线功能成为有效的方法。

但是,对于作为像素不良率的主要原因的保持电容元件的短路,在使保持电容元件共有电容保持功能和电路布线功能并且通过专利文献2所记载的结构对电流泄漏位置用激光等进行修正的情况下,根据短路发生位置而切断电路布线,消除电路布线功能。其结果,虽然可以将不良发光像素灭点化,但是无法恢复作为正常发光像素的功能。

此外,在专利文献1所记载的结构及方法中,虽然可以使保持电容元件与其他电路元件电绝缘化而无功能化,但是在为了达到由发光像素数的增加引起的像素电路的高密度化而设计保持电容元件的布局时,在将保持电容元件的全部设为与导电部及布线分离而连接的非重叠部方面存在局限。

不论在上述的哪一以往技术中,都为即使可以使不良发光像素灭点化或者使发光元件以与其他正常发光像素不同的发光定时发光,也无法通过使不良发光像素以正常发光定时发光而使发光面板的显示质量提高。

本发明是鉴于上述的问题而提出的,其目的在于提供一种即使像素电路高密度化也可以使具有短路不良的保持电容元件的不良发光像素以正常发光定时发光的显示装置及其制造方法。

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