[发明专利]利用LC共振频率变化检测电容式触摸屏面板的装置及方法

说明书

技术领域

本发明系有关电容式触摸屏面板(capacitive touch screen panel，下称“CTSP”)之制造步骤判定不良与否之检测装置及检测方法，尤指通过利用LC共振频移精确测量CTSP之良品和不良品之间存在之ITO接触传感器电极之间微细电容量(capacitance)之差异，从而无需CTSP专用控制器芯片，不受不同CTSP之ITO电极图案之影响而准确判定不良之检测装置及检测方法。

背景技术

一般而言，附着于手机或KIOSK等显示画面之上并通过手之触摸输入各种按钮或信息之触摸屏面板，包括电阻膜方式和电容方式。其中，电容式触摸屏面板CTSP一般具有如图1所示之结构。其包括：位于最下端之下部接地用薄膜110；其上之形成有起到接触传感器作用之透明ITO电极图案之传感器电极薄膜120；其上之通过粘合剂附着于ITO电极之电介质薄膜130；最上面之保护薄膜140。根据不同制造商，作为接触传感器电极之ITO电极150图案之形状，根据其性能和专用控制器芯片之驱动方式有所不同，而整体基本结构如上所述，尤其是，在ITO传感器电极之间维持电容量之方式是各制造商之共同点。即，如图2所示，所有CTSP是ITO电极之间存在之电容器210和下部接地所产生之电容器220之串并联结合形态之等效电路。

若在上述结构之CTSP上附着内置如图3所示之专用控制器芯片310之FPC320，则将形成触摸屏模块形态，可完成测量人手触摸CTSP之位置之工作。

CTSP之工作原理如下：若人手接触CTSP，则接触部位之ITO电 极之间之电容量变得与初始值不同。在专用控制器芯片310中，将利用施加于ITO电极之电信号脉冲之相位延迟变化测量此值之变化，并利用内置于芯片310之算法解析，从而获取手接触于CTSP之位置信息。因此，专用控制器芯片之作用在触摸屏模块之工作中起到非常重要之功能。若改变CTSP之ITO电极图案设计，则将改变之形态将引起电极之间电容量之变化，从而需使用根据这些改变设计编程之新专用控制器芯片。

各CTSP制造商完成触摸屏模块为止之生产步骤，而先前之电气特性质量检测，在CTSP或触摸屏模块状态，利用专用控制器芯片完成。因此，若因CTSP之机型之变化导致CTSP之ITO电极图案之变化，则每次都需使用搭载不同专用控制器芯片之检测仪。另外，在先前利用专用控制器芯片之方式中，无法知道左右CTSP电气特性之ITO传感器电极之间之电容量。另外，因专用芯片利用信号脉冲之相位迟延时间测量技法判定不良，因此，容易受EMI等外部环境条件变化之影响，降低测量精度。

发明内容

本发明之目的在于克服先前技术之不足而提供一种利用LC共振频移之电容式触摸屏面板之检测装置及其检测方法，其无需CTSP专用控制器芯片，不受不同CTSP之ITO电极图案形状之影响而精确检测CTSP之电气特性，以判定不良品。

为达到上述目的，本发明利用LC共振频移之电容式触摸屏面板之检测装置，其特征在于，包括：LC共振部，其包括与CTSP之ITO传感器电极之间之电容量结合产生电气共振之LC共振电路OP放大器驱动部，连接于上述LC共振部并振荡上述LC共振部之LC共振电路，且将共振频率之波形变换为矩形波；中继部，连接于上述LC共振部并对称并联上述LC共振电路和上述CTSP之ITO传感器电极；微电脑部，连接于上述OP放大器驱动部并驱动上述中继部，通过计算从上 述OP放大器驱动部输出之上述矩形波而测量频率并判定CTSP之不良与否。

在此，较佳地，上述微电脑部测量相当于在上述LC共振电路之C值上加上ITO电极之间电容量之LC共振频移并用平均值相除获得规格化计算值，从而根据此计算值包含于良品之共振频移范围之内与否，判定CTSP之不良与否。

另外，较佳地，上述良品之共振频移范围，用平均值除以LC共振频移进行规格化之后，由用户判断存在于指定良品范围与否。

为达到上述目之，本发明利用LC共振频移之电容式触摸屏面板之检测方法，其特征在于：

在包括与CTSP之ITO传感器电极之间之电容量结合产生电气共振之LC共振电路；在振荡上述LC共振电路之同时，为使微电脑部计算频率而变换为矩形波之OP放大器驱动部；及中继部和微电脑部之利用LC共振频移之电容式触摸屏面板之检测装置中，包括：

第一步，为获得通过单纯LC振荡之标准共振频率，在未连接CTSP和LC共振电路之状态下，上述微电脑部通过频率计算测量单纯LC共振电路之标准共振频率值并保存此值；