[实用新型]一种基于I2C总线的移动终端测试盒无效
| 申请号: | 201020684369.6 | 申请日: | 2010-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN201919055U | 公开(公告)日: | 2011-08-03 |
| 发明(设计)人: | 何琦;管银;赵晓洋;曾翰智 | 申请(专利权)人: | 惠州TCL移动通信有限公司 |
| 主分类号: | H04M1/24 | 分类号: | H04M1/24;G06F13/40 |
| 代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 刘文求;杨宏 |
| 地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 i2c 总线 移动 终端 测试 | ||
技术领域
本实用新型涉及移动终端测试领域,尤其涉及的是一种基于I2C总线的移动终端测试盒。
背景技术
现有用于批量生产移动终端的生产线上的移动终端测试盒,随着移动通信终端市场的竞争性的增强,多样性要求的增加,成本控制需求的增大,原有的移动终端测试盒已经无法满足现有需求。
另一方面,随着PC技术、操作系统的发展和电子输入输出控制系统技术的进步(以USB代替PCI),通用的基于I2C总线的测试设备已成为一种趋势。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种基于I2C总线的移动终端测试盒,旨在解决现有的移动终端测试盒成本高,且采购周期长,不便于生产线的维护的问题。
本实用新型的技术方案如下:一种基于I2C总线的移动终端测试盒,其包括:USB总线转换芯片、I2C总线并行I/O口扩展芯片和缓冲器,所述USB总线转换芯片一端连接上位机,另一端连接I2C总线并行I/O口扩展芯片,所述I2C总线并行I/O口扩展芯片通过I/O口连接缓冲器,所述缓冲区连接被测的移动终端,所述USB总线转换芯片与上位机之间通过USB接口通信,所述USB总线转换芯片与I2C总线并行I/O口扩展芯片通过I2C总线通信。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述移动终端测试盒还包括光耦隔离器,所述缓冲器的输出端口连接光耦隔离器的阴极。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述移动终端测试盒还包括切换开关,所述切换开关一端连接综合测试仪,另一端连接被测移动终端。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述移动终端测试盒中还设置有一UART通信模块,所述UART通信模块连接上位机与所述缓冲器。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述I2C总线并行I/O口扩展芯片为并行I/O口扩展芯片。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述光耦隔离器的集极为输出端口,且每个输出端口上都设有上拉电阻。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述I2C总线8位并行I/O口扩展芯片设置有12个。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述移动终端测试盒模拟出96个I/O口。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述缓冲器为8线缓冲器。
所述的基于I2C总线的移动终端测试盒,其中,所述移动终端测试盒中还设置有多功能继电器,所述多功能继电器分别设置在所述USB总线转换芯片和UART通信模块与上位机的连接通道上。
本实用新型的有益效果:本实用新型提出通过采用专用的USB总线转接芯片USB212C实现上位机和下位机控制器之间的直接数据传输,在同步串口方式下提供SCL线和SDA线,另外,采用主芯片PCF8574将SCL和SDA转换成8位I/O口信号;通过一次性采用多块该芯片,设计出通用的自动化移动终端测试站。本实用新型可全面覆盖MTK和QCT平台所有产品的测试工作,降低了生产成本,有效简化现场的维护,大幅增加生产效率。
附图说明
图1为本实用新型提供的测试站的系统架构图。
图2为USB总线转接芯片USB212C的功能电路图。
图3是一个PCF8574T芯片模拟一个8位并行I/O口的局部电路原理图。
图4为本实用新型提供测试系统的1托2的工作方式系统框图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本实用新型进一步详细说明。
参见图1,本实用新型提供的移动终端测试盒2包括:USB总线转换芯片21、一个或多个I2C总线并行I/O口扩展芯片22以及与I2C总线并行I/O口扩展芯片数量对应的缓冲器23,所述USB总线转换芯片21一端连接上位机1,另一端连接一个或多个I2C总线并行I/O口扩展芯片22,所述I2C总线并行I/O口扩展芯片22通过I/O口连接缓冲器23,所述缓冲器23连接被测的移动终端3。所述USB总线转换芯片21与上位机1之间通过USB接口通信,所述USB总线转换芯片21与一个或多个I2C总线并行I/O口扩展芯片22通过I2C总线通信。
所述测试系统用于完成PT(Para System Test,板级测试)、BT(Bluetooth Test,蓝牙测试)和FT (Final Test,最终检验)测试。
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