[实用新型]一种激光器特性测试装置

权利要求书

1.一种激光器特性测试装置，其特征在于：包括平台(1)，在所述平台(1)上设置导轨，在导轨上设置有用以固定激光器的滑块，在导轨的旁侧设置有用于检测激光器的激光器检测模块。

2.根据权利要求1所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述导轨是二维平移导轨(2)，所述二维平移导轨(2)通过滑块固定设有激光器固定座，所述激光器固定座上设有被测激光器(4)，所述激光器固定座上还设有控制被测激光器(4)温度的激光器温度控制模块，所述二维平移导轨(2)的旁侧排列有作为激光器检测模块且分别与计算机系统相连的LIV和光谱测试模块、偏振测试模块、近场光斑测试模块、近场非线性测试模块、远场测试模块以及空间光谱测试模块的一个或者多个；所述被测激光器(4)通过半导体激光器驱动器(5)与计算机系统连接。

3.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述激光器温度控制模块包括温度控制器、制冷器(3)以及设置在被测激光器(4)上的温度传感器，所述温度传感器和制冷器(3)分别与温度控制器连接，所述制冷器(3)设置在被测激光器(4)上用以降低被测激光器(4)温度。

4.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的LIV和光谱测试模块包括功率测试装置(9)和第一光谱测试装置(10.1)；所述功率测试装置(9)和第一光谱测试装置(10.1)与计算机连接；所述功率测试装置(9)探测被测激光器(4)的光功率以及被测激光器(4)的电压随输入电流的变化；所述第一光谱测试装置(10.1)收集被测激光器(4)发出的光，对被测激光器(4)的光谱特性进行表征。

5.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的偏振测试模块包括第一光电探测器(13)、起偏器(12)和衰减片(11)；被测激光器(4)与所述衰减片(11)、起偏器(12)和第一光电探测器(13)依次置于同一直线上，被测激光器(4)发出的光经衰减片(11)衰减后到达起偏器(12)，起偏器(12)会在第一光电探测器(13)上呈现不同的探测值，第一光电探测器(13)通过分析探测到的光强大小，得到光的偏振态和偏振度。

6.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的近场光斑测试模块包括第一光学准直系统(14.1)、光学镜筒(15)和第一CCD相机(16.1)；被测激光器(4)发出的光通过所述第一光学准直系统(14.1)准直后通过光学镜筒(15)在第一CCD相机(16.1)上成像，第一CCD相机(16.1)将得到的图片进行处理判断近场光强的强弱。

7.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的近场非线性测试模块包括透镜系统和第二CCD相机(16.2)；被测激光器(4)发出的光依次通过透镜系统被准直成平行光，该平行光被放大后呈现在第二CCD相机(16.2)上。

8.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的远场测试模块包括可调固定旋转杆(20)、第二光电探测器(19)和步进电机(21)；所述步进电机(21)与可调固定旋转杆(20)的前端相连，通过步进电机(21)带动可调固定旋转杆(20)在垂直和水平方向转动，所述可调固定旋转杆(20)的末端与第二光电探测器(19)相接，在步进电机(21)工作时第二光电探测器(19)在空间位置移动，探测空间的光强。

9.根据权利要求2所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述的空间光谱测试模块包括第二光学准直系统(14.2)、光束放大装置(23)、和第二光谱测试装置(10.2)；被测激光器(4)的每个发光点发出的光通过第二光学准直系统(14.2)和光束放大装置(23)后，所述第二光谱测试装置(10.2)测出每个发光点的光谱，然后将波长信息与发光点光斑一起表示在同一张图片上。

10.根据权利要求2-9中任一项所述的激光器特性测试装置，其特征在于：所述计算机系统包括计算机(6)，所述计算机(6)上安装有数据处理软件，所述计算机(6)还连接有数据采集卡、GPIB采集卡以及GPIB连接线，所述第二光谱测试装置(10.2)、第二光电探测器(19)和第一光电探测器(13)的输出端分别连接到数据采集卡上，所述第一、二CCD相机(16.1、16.2)、功率测试装置(9)和第一、二光谱测试装置(10.1、10.2)与计算机(6)相连接。