[实用新型]一种激光器寿命测试系统

权利要求书

1.一种激光器寿命测试系统，其特征在于：包括平台(1)，所述平台(1)上设有平行导轨(2)，在平行导轨(2)的旁侧设有激光器水冷阵列(4)；在平行导轨(2)上通过滑块固定有激光器光功率探测装置；所述平台(1)上还设有温度采集模块。

2.根据权利要求1所述的激光器寿命测试系统，其特征在于：所述平台(1)是带有桌腿的水平平台，所述激光器水冷阵列(4)与所述平行导轨(2)相互平行；所述平行导轨(2)上的滑块是电动平移台，所述电动平台上固定着积分球(3)和光功率探测器，所述积分球(3)通过光纤连接有光谱仪(6)，所述光谱仪(6)连接至工控机(10)上；所述功率探测PD通过采集卡与工控机(10)连接；所述激光器水冷阵列(4)的旁侧还设有温度采集模块，所述温度采集模块的输出端连接至工控机(10)的输入端；所述电动平移台通过控制电缆连接有平移台控制器，所述平移台控制器连接到工控机(10)上。

3.根据权利要求2所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述激光器水冷阵列(4)的进水口通过管道和流量计连接至冷水机(12)的出水口上，所述流量计通过巡检仪(8)连接到工控机(10)上。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述巡检仪(8)、温度采集模块以及平移台控制器通过三个串口连接器相连接。

5.根据权利要求2所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述激光器水冷阵列(4)上设置有由多个待测激光器组成的待测激光器阵列，所述待测激光器以等间距的排列方式置于激光器水冷阵列(4)上， 所述温度采集模块上安装有多根热电偶或热电阻，所述多根热电偶或热电阻分别固定于待测激光器的热沉处。

6.根据权利要求2或5所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述激光器水冷阵列(4)通过支架(5)固定在所述平台(1)上。

7.根据权利要求5所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述待测激光器阵列的电源输入端连接有电源组(11)，所述电源组(11)对待测激光器进行分组电连接供电，所述电源组(11)通过GPIB控制器(9)连接至工控机(10)上。

8.根据权利要求7所述的半导体激光器寿命测试装置，其特征在于：所述电源组(11)是恒流电源或脉冲电源。