[实用新型]天线电缆测试用连接器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种天线测试设备，尤其是一种用于测试TD-LTE天线电缆配相性能的连接器，具体地是一种能实现快速连接和无损害连接的天线电缆测试用连接器。

背景技术

目前，TD-LTE的技术发展已经占据了世界移动通信标准竞争的制高点。TD-LTE智能天线通道间幅度、相位一致性越高，其广播和业务波束性能越好。这就要求电缆的幅度相位有很高的一致性，因此电缆配相的精确性成为必要手段之一。

目前国内天线厂家普遍采用的测试方法是将待测试电缆一端焊接到50Ω微带介质板上，另一端连接到矢量网络测试仪上，从而实现对电缆幅度、相位的测试。目前这种电缆测试方法测试过程繁琐复杂，需要反复焊接和拆卸电缆，同时带来了微带线和电缆的损耗；其次焊接高温不仅会导致标准50Ω负载匹配性降低，而且容易损坏50Ω微带线，在批量生产过程中需要更换50Ω微带介质板，可重复利用率低。总而言之，目前这种测试方法不仅操作复杂、成本高，且大大降低了测试效率和测试的精确性。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的天线电缆检测时需通过反复焊接才能进行检测，从而导致操作不便和容易对50Ω微带线造成损伤的问题，设计一种无需焊接且连接方便可靠、速度快的天线电缆测试用连接器。

本实用新型的技术方案是：

一种天线电缆测试用连接器，其特征是它主要由螺套1和套夹2组成，所述的螺套1的一端设有用于与50Ω负载相连的内螺纹4，螺套1的另一端设有定位通孔3；所述的套夹2的一端设有通孔6，另一端设有插入所述的定位通孔3中的夹片7，在套夹2的中部设有定位台阶8，定位台阶8靠近夹片7的一端与定位通孔3的内端面相抵。

所述的夹片7的数量为三片以上。

所述的夹片7围成一个锥台形结构，该锥台形结构的大端与定位台阶8相连。

所述的夹片7之间形成的切槽5的大小约为2毫米，夹片7的高度约为3毫米。

本实用新型的有益效果：

本实用新型采用灵活的结构设计，操作简单方便，测试效率高。

本实用新型可直接将电缆与50Ω负载相连，中间无需使用50Ω微带介质板进行过渡连接，不仅减少了不必要的浪费，节约了成本，并且避免了中间的焊接过程以及由重复焊接所带来的微带线和电缆损耗，提高了电缆配相的精确性。

本实用新型拆装方便灵活，重复利用率高，不仅提高了电缆的配相与测试效率，且实现了天线系统的快速组装与精确测试。

附图说明

图1是本实用新型的使用状态结构示意图。

图2是本实用新型的螺套的结构示意图。

图3是本实用新型的套夹的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明。

一种天线电缆测试用连接器，尤其适用于TD-LTE天线配相测试用，该连接器包括螺套1和套夹2，如图1所示。螺套1采用不锈钢材料制作，套夹2采用铍青铜材料制作。螺套1为六角形螺母结构，螺套1一端设有厚度1mm定位通孔3,中部设有用于连接50Ω负载9的1/4英寸的内螺纹4，如图2所示。套夹2整体呈阶梯状凸圆结构，一端为厚度0.3mm、直径3mm的用于穿装电缆10的内导体的通孔6，另一端为设有弹性夹片7，夹片7的数量可为三片、四片或四片以上，夹片7围成一个锥台形结构，该锥台形结构的大端与定位台阶8相连，本实施例的夹片的数量为四片，四片夹片7均是由厚度0.4mm、外径4.5的圆环沿轴向垂直切割而成，切槽5宽度为0.2mm、深度为3mm；套夹2中部为定位台阶8，定位台阶8的一端与定位通孔3的内端面相抵，如图3所示。

测试时，先将螺套1导入剥好的电缆10中，接着将电缆10插入套夹2，直到电缆的内导体穿过通孔6并已沿其轴线方向定位；利用弹性夹片7的弹性夹力将电缆向轴心方向夹紧，以保证电缆外导体与套夹2良好接触；调整螺套1与套夹2的位置，即将套夹2的带有弹性夹片7的一端向螺套1外拉动，直到套夹2的定位台阶8与螺套1上的定位通孔3的内端面相抵，完全定位，此时将螺套1通过内螺纹4与50Ω负载9相连即可对电缆进行配相与测试。在重复测试时，只需按上述步骤更换电缆即可，既方便可靠，又可重复拆装，且无需将电缆与其它件进行焊接，不仅提高了电缆的配相速度和精度，且大大提高了天线的组装和测试效率。

本实用新型未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。