[实用新型]传感器老化测试装置有效
| 申请号: | 201020643499.5 | 申请日: | 2010-11-30 | 
| 公开(公告)号: | CN201867202U | 公开(公告)日: | 2011-06-15 | 
| 发明(设计)人: | 赵雪;欧瑞萍 | 申请(专利权)人: | 北京七星华创电子股份有限公司 | 
| 主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 | 
| 代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 | 
| 地址: | 100016 *** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 传感器 老化 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种传感器检测装置,尤其涉及一种传感器老化测试装置。
背景技术
传感器的老化测试是传感器生产过程中的重要环节。现有技术中,传感器操作步骤无加速老化环节,导致传感器在实际使用中需要较长的自然老时间,使生产周期变长,生产效率变低,且产品在使用中容易产生零漂较大的现象。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种可以进行传感器的老化指标的测试,使用方便、检测结果准确的传感器老化测试装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的:
本实用新型的传感器老化测试装置,包括相互电连接的传感器加速老化台和可调直流电源,所述传感器加速老化台设有多个传感器加速老化工位,每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔和接线端子排。
由上述本实用新型提供的技术方案可以看出,本实用新型所述的传感器老化测试装置,由于包括相互电连接的传感器加速老化台和可调直流电源,传感器加速老化台设有多个传感器加速老化工位,每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔和接线端子排。可以进行传感器的老化指标的测试,使用方便、检测结果准确。
附图说明
图1为本实用新型传感器老化测试装置的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型的传感器老化测试装置,其较佳的具体实施方式如图1所示,包括相互电连接的传感器加速老化台A和可调直流电源B,所述传感器加速老化台A设有多个传感器加速老化工位Sensor1-Sensor20(图中部分工位未示出),每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔和接线端子排。
具体实施例中,传感器加速老化台A可以设有10-30个传感器加速老化工位,比如设有20个传感器加速老化工位。传感器的安装孔可以包括两个小圆孔;接线端子排包括至少2个接线端子Ru、Rd,其中一个为红色端子,另一个为黑色端子。传感器加速老化工位还可以包括指示灯L1-L20。
所述可调直流电源B可以设有可调电位器。
本实用新型可以进行传感器的老化指标的测试,使用方便、检测结果准确,可以满足更多不同的老化要求。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型披露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
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