[实用新型]材料试验装置有效
申请号: | 201020632578.6 | 申请日: | 2010-11-29 |
公开(公告)号: | CN201917493U | 公开(公告)日: | 2011-08-03 |
发明(设计)人: | 廉成;高云峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/02 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 材料 试验装置 | ||
【技术领域】
本实用新型涉及测量设备,特别涉及一种材料试验装置。
【背景技术】
工程中实际使用材料的性能参数与标准手册上的参数是有一定差别的,有时差别还会很大,尤其是一些铸造材料、热处理后的材料及合金材料等更是差别很大。在精密机床行业对材料的性能参数值的准确性要求很高,因为对结构件的几个微米的变形也会对机床性能产生很大的影响,尤其是大型零件更应保证性能参数的准确性。
精密机床行业主要关注的是组成机床材料在受到拉力与弯矩的作用下材料的弯曲变形问题。因此需对每批来料都做常规标准化的材料拉伸等测试,而对于金属材料因对试件的加工精度很高,会给制造业带来了很大的负担,但对于非金属材料,如人造石,现有的常规测试设备都很难测准,需要针对具体材料作专用工装。
【实用新型内容】
基于此,有必要提供一种材料试验装置,能够准确测量材料的抗拉强度。
一种材料试验装置,包括底座、设置在所述底座上的支架和试料支撑块、设置在所述支架上的工作压力轴和防止所述工作压力轴绕自身轴向旋转的定位键组件、设置在所述工作压力轴朝向所述底座的一端的试料测头、设置在所述工作压力轴和试料测头之间的压力传感器、与所述试料测头相对设置的位移传感器、设置在所述支架上且驱动所述工作压力轴沿自身轴向移动的驱动组件及与所述驱动组件和工作压力轴分别相连的传动组件,所述工作压力轴的轴向垂直于所述底座所在的平面,所述试料支撑块的支撑面位于所述试料测头与所述位移传感器之间。
优选地,还包括设置在所述工作压力轴与压力传感器之间校正所述压力传感器误差的压力传感器预紧力块。
优选地,所述定位键组件包括定位键和与所述定位键相连的定位键手柄,所述工作压力轴上设有导向槽,所述定位键插入所述导向槽。
优选地,所述定位键组件还包括套于所述定位键上且为所述定位键提供回弹力的定位键弹簧。
优选地,所述驱动组件包括进给手轮、与所述进给手轮相连的进给手轮杆,所述进给手轮杆与传动组件相连。
优选地,所述传动组件包括带内螺纹的轴承座、卡住所述轴承座两端的固定夹、依次啮合的输入轴齿轮、中间齿轮组件和工作压力轴齿轮,所述工作压力轴带有外螺纹,所述轴承座套于所述工作压力轴上,所述外螺纹与内螺纹相适配,所述输入轴齿轮套于所述进给手轮杆上,所述工作压力轴齿轮套于所述轴承座上。
优选地,所述中间齿轮组件包括中间轴杆、与所述输入轴齿轮啮合的第一传动齿轮和与所述工作压力轴齿轮啮合的第二传动齿轮,所述第一传动齿轮和第二传动齿轮套于所述中间轴杆上。
优选地,所述支架包括相对设置的两个立柱和连接所述两个立柱的横梁,所述横梁上设有所述轴承座。
优选地,所述试料支撑块包括相对设置的两个试料支撑分块,且所述两个试料支撑分块分别靠近所述两个立柱,所述位移传感器位于所述两个试料支撑分块之间。
优选地,所述试料支撑块上设有凹槽。
上述材料试验装置,采用定位键组件防止工作压力轴绕轴向旋转,驱动组件和传动组件配合带动工作压力轴沿轴向方向移动,使得试料测头逐步对材料进行挤压,压力传感器和位移传感器配合检测材料发生变形时的加载力及变形量,从而准确测得材料的抗拉强度。
【附图说明】
图1为一个实施例中材料实验装置的立体结构示意图;
图2为图1的正视图;
图3为图1的俯视图;
图4为图2的B-B剖面图;
图5为图3的A-A剖面图;
图6为图5的局部C的放大图;
图7为另一个实施例中材料实验装置的立体结构示意图。
【具体实施方式】
下面结合具体的实施例及附图对技术方案进行详细描述。
如图1至图5所示,一种材料试验装置,包括底座10、设置在底座10上的支架20和试料支撑块30、设置在支架20上且带外螺纹的工作压力轴40和与工作压力轴40相连且防止工作压力轴40绕自身轴向旋转的定位键组件50、设置在工作压力轴40一端的试料测头60、设置在工作压力轴40与试料测头60之间的压力传感器70、与压力传感器70相对设置且位于底座10上的位移传感器80、设置在支架20上且驱动工作压力轴40沿自身轴向移动的驱动组件90及与驱动组件90和工作压力轴40相连的传动组件92。试料支撑块30的支撑面位于试料测头60与位移传感器70之间,工作压力轴40的轴向垂直于底座10所在的平面。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司,未经深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020632578.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:纳米催化发光微型传感器
- 下一篇:一种冲击试验机挂摆机构装置