[实用新型]一种宽谱段空间外差光谱仪无效

专利信息
申请号: 201020631062.X 申请日: 2010-11-29
公开(公告)号: CN201897503U 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 冯玉涛;白清兰 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 徐平
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 宽谱段 空间 外差 光谱仪
【权利要求书】:

1.一种宽谱段空间外差光谱仪,包括干涉仪入瞳、准直系统、分束元件、闪耀光栅组件、条纹成像系统和探测器阵列,其中分束元件的核心部件是50∶50半反半透的消偏振分光膜。其特征在于:所述闪耀光栅组件是由分别处于分束元件首次形成的反射光路上的第一中阶梯光栅和透射光路上的第二中阶梯光栅组成;设经过第一中阶梯光栅中心并与准直系统所在光路的光轴平行的直线为第一旋转轴,经过第二中阶梯光栅中心并在同一平面内与所述第一旋转轴垂直的直线为第二旋转轴,且皆规定中阶梯光栅的入射方向再逆时针旋转90度为旋转轴线的正方向,两块中阶梯光栅的角度、位置关系满足:(1)分束元件首次分出的反射和透射光束均以Littrow角入射到两块中阶梯光栅上,(2)以常规的闪耀光栅组件与分光元件的位置关系为基准,第一中阶梯光栅绕第一旋转轴再旋转α/4度,第二中阶梯光栅绕第二旋转轴再旋转负α/4度,其中α≥4sinθL/(DWy),Wy为沿刻线方向光栅的尺寸,D为光栅刻线密度;所述条纹成像系统包括前镜组和后镜组,前镜组的后焦面与后镜组的前焦面重合,该焦面重合位置设置有级次选择掩膜。

2.根据权利要求1所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述级次选择掩膜为可控光学快门。

3.根据权利要求2所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述可控光学快门存在四象限独立控制分区,能够通过同步控制两组对角象限区域的透光或阻光状态来实现衍射级次选择功能。

4.根据权利要求1至3任一所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述条纹成像系统为4f系统,所述级次选择掩膜位于该4f系统的频谱面位置处。

5.根据权利要求4所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述分束元件为分束板或分束棱镜。

6.根据权利要求4所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述准直系统为透射式系统或反射式系统。

7.根据权利要求4所述的宽谱段空间外差光谱仪,其特征在于:所述干涉仪入瞳前方的望远系统为透射式系统或反射式系统。

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