[实用新型]晶片检测分选机

说明书

技术领域

本实用新型涉及晶片检测设备，具体的说是一种晶片检测分选机。

背景技术

晶片加工完成后，需要对其参数进行检测，然后按其不同的参数值的范围进行分选，更好的满足不同用户的需要，根据检测的结果采用人工进行分选工作量很大。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对上述问题，提出一种结构简单、使用方便的晶片检测分选机。

本实用新型的目的是这样实现的：本实用新型的一种晶片检测分选机，它包括工作台和检测装置，检测装置放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台有个落料管，工作台下有伺服电机带动的转盘，不同参数范围的落料罐呈环状有序分布在转盘上，落料管的出口在落料罐上方。

本实用新型的晶片检测分选机，检测装置只要把检测到的晶片的数据输送到单片机，单片机输出相对应的伺服电机转动的角度控制信号，转盘上相应的落料罐转到落料管的出口下方候料。因此，本实用新型具有结构简单、使用方便的特点。

附图说明

图1为本实用新型的晶片检测分选机的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图通过实施例对本实用新型作进一步说明：

如图1所示，本实用新型的一种晶片检测分选机，它包括工作台1和检测装置2，检测装置2放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台1有个落料管3，工作台2下有伺服电机4带动的转盘5，不同参数范围的落料罐6呈环状有序分布在转盘5上，落料管3的出口在落料罐6上方。