[实用新型]一种TFT-LCD面板测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及LCD面板测试技术领域，具体涉及一种TFT-LCD面板测试装置。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，即薄膜场效应晶体管-液晶显示器)面板加工完后，一般需要对其进行检测。传统的测试设备一般利用单片机产生TFT-LCD面板所需的电压方波，并将不同的电压波形通过探针加在面板测试点上驱动LCD面板，分别通过按R、G、B按钮的组合键来实现所需的颜色，从而检测出TFT-LCD面板是否不良。

但是上述的测试设备存在以下缺点：

第一、测试设备的方波电路由单片机及外围元件和内部程序产生，这部分电路需要下载软件，并且需要编写复杂的程序；第二、由于每种TFT-LCD面板所引出的测试点不同，有的面板引出了R、G、B点，有的没引出，所以测试设备不能共用，导致每一种型号的面板需要一套专用的测试设备，如果一家工厂有多种型号的面板，就要制造多套专用的测试设备，导致面板的测试成本高，并且浪费了人力和物力；第三、这种测试设备是靠R、G、B还有其他按键的组合键来实现所需画面的显示，例如：如果要实现G-odd时，需要按下R、G、B、G-odd键才能实现，如果要实现“红色”时，需要按R、G键实现，这种繁琐的操作使生产效率非常低。

因而现有TFT-LCD面板测试设备还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种TFT-LCD面板测试装置，能对各种接口类型的中小尺寸TFT-LCD面板进行测试。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种TFT-LCD面板测试装置，其中，包括：用于提供电源电压的电源控制模块；用于产生并输出驱动信号的多谐振荡器；用于对所述驱动信号进行放大的信号放大模块；用于控制放大后的驱动信号输出的控制模块；及用于输出所述驱动信号的信号输出端口；所述电源控制模块分别与所述多谐振荡器、信号放大模块和信号输出端口连接，所述多谐振荡器、信号放大模块、控制模块和信号输出端口依次连接。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述控制模块包括单片机控制单元、开关组和继电器组，所述单片机控制单元、开关组、继电器组和所述信号输出端口依次连接。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述单片机控制单元包括：型号为DIP40-600的单片机，用于使单片机复位的复位电路，用于给所述单片机提供时钟振荡信号的时钟振荡电路和上拉电阻；所述单片机的第9引脚连接所述复位电路，单片机的第18至第20引脚连接所述时钟振荡电路，所述单片机的第32至40引脚连接所述上拉电阻。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述开关组包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管和第五MOS管；所述继电器组包括第一继电器、第二继电器和第三继电器；

所述单片机的第39引脚通过所述上拉电阻连接第一MOS管的栅极，第一MOS管的漏极连接所述第一继电器，第一MOS管的源极接地；所述第一继电器与所述信号输出端口的第一引脚连接；

所述单片机的第38引脚通过所述上拉电阻连接第二MOS管的栅极，第二MOS管的漏极连接所述第二继电器，第二MOS管的源极接地；所述第二继电器与所述信号输出端口的第二引脚连接；

所述单片机的第37引脚通过所述上拉电阻连接第三MOS管的栅极，第三MOS管的漏极连接所述第三继电器，第三MOS管的源极接地；所述第三继电器与所述信号输出端口的第三引脚连接；

所述单片机的第36引脚通过所述上拉电阻连接第四MOS管的栅极，第四MOS管的漏极连接TFT-LCD面板上的G-even端口，第四MOS管的源极接地；

所述单片机的第35引脚通过所述上拉电阻连接第五MOS管的栅极，第五MOS管的漏极连接TFT-LCD面板上的G-odd端口，第五MOS管的源极接地。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，在继电器组和信号放大模块之间设置有可变电阻。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述可变电阻通过第二开关与继电器组连接。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述电源控制模块包括依次连接的电源输入端口、稳压电路和电源指示灯。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述多谐振荡器采用型号为NE555的定时芯片。

所述的TFT-LCD面板测试装置，其中，所述信号放大模块采用型号为LM324的集成芯片。