[实用新型]一种整流二极管无效

专利信息
申请号: 201020522061.1 申请日: 2010-09-08
公开(公告)号: CN201788976U 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 俞建;赵强;李治刿;李驰明;范德忠;魏广乾 申请(专利权)人: 四川太晶微电子有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/417;H01L29/861
代理公司: 成都虹桥专利事务所 51124 代理人: 李顺德
地址: 629000 四川省遂宁市开发*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 整流二极管
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及电子器件,特别涉及一种整流二极管。

背景技术

整流器,特别是半导体整流器,是电子技术中应用非常广泛的电子器件。半导体整流器一般由整流二极管构成,一只整流器通常采用4只整流二极管连接成桥式整流电路构成。在半导体制造工艺中,整流二极管是由芯片构成的,芯片中的P区和N区接触区就是PN结,是二极管实现其功能(单向导电性)的所在。现有技术整流二极管的PN结是在一块本征芯片中,在其正面和背面掺以不同的杂质,使其一面成为P型半导体,另一面成为N型半导体,在交界处就形成了一个PN结,为了满足二极管的电性能要求,芯片厚度一般要达到0.25~0.27mm。图1示出了现有技术的整流二极管结构示意图,包括芯片20和引出电极23、24。图1以剖视图的形式示出了整流二极管结构,它是在厚度D大于0.25mm的本征半导体芯片20正面扩散P型杂质形成P区21,背面扩散N型杂质形成N区22,P区21与N区22的交界处形成PN结,这就构成了一只二极管。图1中P区引出电极23和N区引出电极24,分别从芯片20的两面(正面和背面)引出。如果需要4只二极管连接成桥式整流电路,各引出电极还应与位于同一面的引线框架(图中为示出)连接,将4只二极管接成桥式整流电路。从图1可以看出,现有技术的整流二极管,管芯厚度(包括芯片及其电气连接部分的厚度)为:h+D+h,其中:h约为0.5mm,D至少为0.25mm,即管芯厚度至少为1.25mm。现有技术整流二极管存在的主要缺点是:由于采用芯片两面扩散的工艺形成PN结,要求芯片厚度D要大(≥0.25mm),不利于产品的小型化;芯片两面都有电极和引线框架进一步增加了厚度,并增加了电路连接工艺复杂程度,而且在后续的封装工序中,芯片不能与外侧散热片直接接触,散热效果也会受到影响。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题,就是针对现有技术整流二极管芯片厚度大,不利于产品小型化的缺点,提供一种平面结构的整流二极管,降低整流二极管厚度。

本实用新型解决所述技术问题,采用的技术方案是,一种整流二极管,包括芯片和引出电极,所述芯片具有P区、N区及其形成的PN结,所述引出电极分别与P区和N区相连,其特征在于,所述P区和N区并排于所述芯片同一面,所述P区和N区横向相交形成PN结,所述引出电极位于所述芯片同一面。

进一步的,所述P区和N区厚度相同。

进一步的,所述P区和N区厚度与芯片厚度相同。

进一步的,所述P区或N区为所述芯片的一部分。

推荐的,所述芯片厚度<0.25mm。

优选的,所述芯片厚度=0.20mm。

本实用新型的有益效果是,降低了整流二极管厚度,有利于产品的小型化,引出电极位于芯片同一面,降低了芯片焊接工艺的复杂性。

附图说明

图1是现有技术整流二极管结构示意图;

图2是本实用新型整流二极管结构示意图。

其中:1为引线框架;20为芯片;21为P区;22为N区;23为P区引出电极;24为N区引出电极。

具体实施方式

下面结合附图及实施例,详细描述本实用新型的技术方案。

本实用新型的整流二极管中,包括芯片和引出电极。芯片中,P区和N区并排于所述芯片同一面,P区和N区横向相交形成PN结。P区和N区引出电极位于芯片同一面并分别与P区和N区相连。在半导体制造工艺中,其PN结是在一片P型(或N型)半导体芯片正面,扩散N型(或P型)杂质构成。芯片中没有进行杂质扩散的部分即为整流二极管的P区(或N区),扩散了杂质的部分形成整流二极管的另一导电区——N区(或P区)。P区和N区横向相交就形成了PN结,P区和N区的引出电极也位于芯片正面,芯片背面没有引出电极。可以在纯平面的芯片背面沉积一层硅绝缘层作为绝缘隔离层,并进行金属化处理形成一层金属膜,然后再在金属膜上焊接一片无氧铜片作为散热器,可以实现芯片和散热器一体化封装,芯片与无氧铜片直接紧密结合(忽略绝缘隔离层),既简化了生产流程,又提高了散热能力。用这种结构的整流二极管构成的整流器,4只芯片的引出电极都可以在同一面与引线框架连接,可以大大降低焊接工艺复杂性,提高生成效率,降低产品成本。

实施例1

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