[实用新型]一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及通讯领域，特别涉及一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统。

背景技术

对于具有射频功能的电路，生产加工时需要对射频性能进行测试。现有的射频测试系统如图1所示，包括被测电路1和测试设备2。其中被测电路1包括射频电路及匹配电路11、射频连接器12、天线匹配电路13和天线连接接口14，天线连接接口14连接天线15。其中，射频连接器12通过天线匹配电路13连接天线连接接口14。其中测试设备2通过测试电缆21电连接射频连接器12。当测试电缆21的插头插入射频连接器12时，射频连接器12将射频电路及匹配电路11与天线匹配电路13之间断路，并将射频电路及匹配电路11与测试设备2之间电性导通。当从测试电缆21的插头被拔出之后，射频连接器12将射频电路及匹配电路11与天线连接接口14导通。

在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：

现有技术中的射频测试系统和装置，需要在被测电路中内置一个射频连接器12，而射频连接器12在测试完成后就失去作用了，这样导致产品的成本增加。

实用新型内容

为了解决现有技术中需要为了对射频进行测试而必须在被测电路增设一个射频连接器导致成本增加问题，本实用新型实施例提供了一种射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统。所述技术方案如下：

本实用新型实施例提出了一种射频测试接口装置，包括：接口电路，所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口电性导通。

本实用新型实施例还提出了一种射频测试系统，包括测试设备和接口电路；所述接口电路包括天线连接接口以及测试设备接口；所述天线连接接口与所述测试设备接口导通；所述测试设备连接电所述测试设备接口。

本实用新型实施例还提出了一种射频电路，包括射频电路及匹配电路、天线匹配电路、天线连接接口；所述射频电路及匹配电路连接所述天线匹配电路，所述天线匹配电路连接所述天线连接接口；所述天线连接接口通过接口电路连接连接测试设备。

本实用新型实施例提供的技术方案的有益效果是：本实用新型实施例的射频电路、射频测试接口装置和射频测试系统，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面所列附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中射频测试系统的结构示意图；

图2是本实用新型第一实施例的射频测试接口装置的结构示意图；

图3是本实用新型第二实施例的射频测试接口装置的结构示意图；

图4是本实用新型第三实施例的射频测试系统的结构示意图；

图5是本实用新型第四实施例的射频测试系统的结构示意图；

图6是本实用新型的射频测试接口装置或射频测试系统与被测电路连接时的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。

实施例1

本实用新型实施例提出了一种射频测试接口装置，其结构如图2所示，包括：接口电路100，接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。

本实用新型实施例的射频测试接口装置，通过设置接口电路与被测电路的天线连接接口电连接，以通过被测电路的天线连接接口对射频电路进行测试。这样就无需每一被测电路都设置一个射频连接器，既可以实现对被测电路的射频电路进行测试，也可以降低产品中射频电路的复杂度，满足小型化要求，并节省成本。

实施例2

本实用新型第二实施例提出了一种射频测试接口装置，包括：接口电路100，接口电路100包括天线连接接口101以及测试设备接口102；天线连接接口101与测试设备接口102电性导通。

参考图6所示的，天线连接接口101可以通过连接电缆105连接被测电路的天线连接接口14。由于被测电路可能会存在不同结构的天线连接接口14。采用连接电缆的形式，可以通过设置多条具有相应接口的连接电缆，在连接不同结构的天线连接接口时只需要更换连接电缆即可。