[实用新型]电磁抗扰度测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种电磁抗扰度测试设备。

背景技术

当电子产品受到电磁干扰时，可能会影响其正常运作。因此，许多电子产品须接受电磁抗扰度测试，以确保其抗静电放电干扰的能力。具体来说，电磁抗扰度测试包含了工频磁场(PFMF)测试、电性快速突波(EFT，ElectricalFast Transient)测试、雷击(Surge)测试、射频传导(CS)测试及电压跌落及中断(Dips)测试等。

当对电子产品依序进行上述各种测试时，需不断重新安排测试件(电子产品)与测试设备，或将测试件从一测试平台移至另一测试平台以进行另一测试，因此会耗费较多时间。此外，过多的测试平台会占据测试环境较多的配置空间。

实用新型内容

本实用新型提供一种电磁抗扰度测试设备，可节省测试时间。

本实用新型提出一种电磁抗扰度测试设备，适于对电子装置进行电磁抗扰度测试。这种电磁抗扰度测试设备包括承载座、支撑结构、测试平台、至少一支撑滑块及工频磁场测试机器。支撑结构配置在承载座上。测试平台具有前端及后端且承载电子装置，其中后端配置在支撑结构上，前端悬在承载座上方，前端面对承载座的表面具有至少一滑槽，滑槽具有第一端及第二端，滑槽在第一端的深度小于滑槽在第二端的深度。支撑滑块滑设于滑槽，其中支撑滑块滑动至第一端而接触承载座，或滑动至第二端而与承载座之间具有间距，感应线圈越过该间距而套设于该前端。工频磁场(PFMF)测试机器配置在承载座上而邻近测试平台。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括接地螺丝，配置在承载座上。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括置物平台，配置在承载座下方。

在本实用新型的一实施例中，上述的至少一滑槽包括两滑槽，该至少一支撑滑块包括两支撑滑块，当两支撑滑块分别位于两对应的第一端时，支撑结构与两支撑滑块共同支撑测试平台。

在本实用新型的一实施例中，上述的两第一端分别位于前端相对的两侧边，两第二端位于前端的中间区域且相邻。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括电性快速突波(EFT，Electrical Fast Transient)测试机器，配置在承载座上而邻近测试平台。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括雷击(Surge)测试机器，配置在承载座上而邻近测试平台。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括射频传导(CS)测试机器，配置在承载座上而邻近测试平台。

在本实用新型的一实施例中，上述的电磁抗扰度测试设备还包括电压跌落及中断(Dips)测试机器，配置在承载座上而邻近测试平台。

基于上述，本实用新型的测试平台具有滑槽，且滑槽在第一端及第二端具有不同深度，因此滑设于滑槽的支撑滑块可滑动至第一端而接触承载座，以与支撑结构共同支撑测试平台，支撑滑块也可滑动至第二端而与承载座之间具有间距，以便于使用者将用于进行工频磁场测试的感应线圈套设至测试平台。借此，当使用者在此测试平台依序进行工频磁场测试与其它种类的电磁抗扰度测试时，不需将测试平台抬离承载座就可将感应线圈套设于测试平台或从测试平台取下，进而节省整体测试时间。

为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的电磁抗扰度测试设备的立体图。

图2A及图2B为图1的电磁抗扰度测试设备沿视角V的作动示意图。

图3为图2B的电磁抗扰度测试设备的部分结构立体图。

附图标记：

50：电子装置；                 60：感应线圈；

100：电磁抗扰度测试设备；      110：承载座；

120：支撑结构；                130：测试平台；

132：前端；                    132a：滑槽；

134：后端；                    140：工频磁场测试机器；

150：支撑滑块；                160：接地螺丝；

170：置物平台；                D：方向；

E1：第一端；                   E2：第二端；

G：间距；                      V：视角。