[实用新型]一种基于硅硅键合的压力传感器无效
| 申请号: | 201020153744.4 | 申请日: | 2010-04-09 |
| 公开(公告)号: | CN201653605U | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
| 发明(设计)人: | 刘同庆;沈绍群 | 申请(专利权)人: | 无锡芯感智半导体有限公司 |
| 主分类号: | G01L1/18 | 分类号: | G01L1/18;B81B7/02 |
| 代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
| 地址: | 214100 江苏省无锡市滨湖区十八*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 硅硅键合 压力传感器 | ||
1.一种基于硅硅键合的压力传感器,包括衬底硅片(1);其特征是:所述衬底硅片(1)上设有结构硅片(2),所述结构硅片(2)与衬底硅片(1)通过硅硅键合相固定连接;所述结构硅片(2)对应于与衬底硅片(1)相接触的表面上设有浅杯槽(3),所述浅杯槽(3)的槽底设有背岛(4);所述浅杯槽(3)的槽口由衬底硅片(1)封闭,所述背岛(4)位于浅杯槽(3)与衬底硅片(1)相密闭的空腔内;结构硅片(2)对应于与衬底硅片(1)相连接的另一端表面设有敏感电阻(6),所述结构硅片(2)上的敏感电阻(6)分别形成惠斯通电桥的桥臂电阻;所述敏感电阻(6)位于浅杯槽(3)槽底的上方;结构硅片(2)对应于设置敏感电阻(6)的表面上分别依次设置有氧化层(8)及绝缘介质层(9);所述绝缘介质层(9)上设有电极(10),所述电极(10)分别穿过绝缘介质层(9)、氧化层(8)后与敏感电阻(6)电性连接;所述结构硅片(2)上还设有对准深孔(5),对准深孔(5)位于浅杯槽(3)的外圈;所述对准深孔(5)的深度由绝缘介质层(9)的表面延伸到衬底硅片(1)。
2.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述绝缘介质层(9)的材料包括氮化硅。
3.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述结构硅片(2)对应于浅杯槽(3)槽底上方的表面形成压力敏感膜(7),所述压力敏感膜(7)上设置敏感电阻(6)。
4.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述电极(10)的材料包括铝。
5.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述氧化层(8)为二氧化硅层。
6.根据权利要求1所述的基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述衬底硅片(1)对应于与结构硅片(2)相接触的表面上设有氧化层(8)。
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