[实用新型]一种基于硅硅键合的压力传感器无效

专利信息
申请号: 201020153744.4 申请日: 2010-04-09
公开(公告)号: CN201653605U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 刘同庆;沈绍群 申请(专利权)人: 无锡芯感智半导体有限公司
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;B81B7/02
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 殷红梅
地址: 214100 江苏省无锡市滨湖区十八*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 硅硅键合 压力传感器
【权利要求书】:

1.一种基于硅硅键合的压力传感器,包括衬底硅片(1);其特征是:所述衬底硅片(1)上设有结构硅片(2),所述结构硅片(2)与衬底硅片(1)通过硅硅键合相固定连接;所述结构硅片(2)对应于与衬底硅片(1)相接触的表面上设有浅杯槽(3),所述浅杯槽(3)的槽底设有背岛(4);所述浅杯槽(3)的槽口由衬底硅片(1)封闭,所述背岛(4)位于浅杯槽(3)与衬底硅片(1)相密闭的空腔内;结构硅片(2)对应于与衬底硅片(1)相连接的另一端表面设有敏感电阻(6),所述结构硅片(2)上的敏感电阻(6)分别形成惠斯通电桥的桥臂电阻;所述敏感电阻(6)位于浅杯槽(3)槽底的上方;结构硅片(2)对应于设置敏感电阻(6)的表面上分别依次设置有氧化层(8)及绝缘介质层(9);所述绝缘介质层(9)上设有电极(10),所述电极(10)分别穿过绝缘介质层(9)、氧化层(8)后与敏感电阻(6)电性连接;所述结构硅片(2)上还设有对准深孔(5),对准深孔(5)位于浅杯槽(3)的外圈;所述对准深孔(5)的深度由绝缘介质层(9)的表面延伸到衬底硅片(1)。

2.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述绝缘介质层(9)的材料包括氮化硅。

3.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述结构硅片(2)对应于浅杯槽(3)槽底上方的表面形成压力敏感膜(7),所述压力敏感膜(7)上设置敏感电阻(6)。

4.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述电极(10)的材料包括铝。

5.根据权利要求1所述基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述氧化层(8)为二氧化硅层。

6.根据权利要求1所述的基于硅硅键合的压力传感器,其特征是:所述衬底硅片(1)对应于与结构硅片(2)相接触的表面上设有氧化层(8)。

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