[实用新型]一种偏压配置接口及带偏压配置接口的可靠性测试板

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路产品可靠性测试领域，尤其涉及一种偏压配置接口及使用该偏压配置接口的可靠性测试板。

背景技术

可靠性试验是保证集成电路性能和质量的关键，可靠性技术是集成电路制造行业的支撑技术，为集成电路性能的迅速发展和产品的实用化提供保障。在集成电路产品的可靠性(尤其是封装可靠性)认证和评估中，温湿偏置(THB，Temperature Humidity with Bias)测试和高加速温湿度及偏压测试(HAST，HighlyAccelerated Stress Test)是重要的测试项目。THB测试和HAST测试是评估集成电路产品在高温、高湿和偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速芯片裸露金属的腐蚀以及湿气渗透对非密闭型封装的影响。

产品可靠性测试中往往需要使用对应的测试板，例如在HAST测试中，需要使用HAST板。通常来说，HAST板由放置测试芯片用的测试座(Socket)与相应的印刷电路板(PCB)组成，其作用是给每个被测样品的特定引脚提供偏压。在HAST测试中，将待测试产品(芯片)置于HAST板的测试座中，再将HAST板与机台内的扩展板(Extension Board)相连，电偏压(Electric Bias)便可以加到测试产品的引脚上。

然而由于测试的产品种类不一，例如包括静态随机存储器(SRAM)和动态随机存储器(DRAM)以及NAND和NOR规格的闪存等，即使他们的封装类型相同，但是他们的信号引脚以及电源引脚的分布位置却不相同。

为了解决这一问题，目前通常是将HAST板的偏压配置部分设为开放式的，即在HAST板上设有电阻连接区域，通过在接口处插入不同的电阻来为相同封装的不同产品配置偏压，这样就需要用手工方式通过电阻连接把板配置成适合某种产品的连线。然而每对一种产品进行HAST测试，就需要重新配置电阻连线而需要多次插拔电阻，并且由于产品电源引脚的偏压通常与其信号引脚的偏压不同，不是简单的高低电平，而是一具体值，因而对产品电源引脚的调试是比较困难的，需更换不同阻值的电阻来调试电源引脚的偏压。因此将花费大量的时间和人力，很容易出错，接触不良也时常发生，对于测试效率的提高非常不利，甚至延误产品的测试周期。

为了解决HAST测试效率低下的问题，2009年9月30日公开的“用于产品可靠性测试板的跳线板”(公开号为CN101545946A的中国专利)公布了一种跳线板，所述跳线板包括板体和多个针脚，所述板体上整合有与HAST板的连线区相对应的信号走线，并在所述信号走线之间插接电阻，以配置成适合某种产品的连线，在进行HAST测试时，只需将整块跳线板的针脚插入HAST板的连线区，即可进行相应产品的HAST测试。这种跳线板使得每次进行同种产品测试时，不需重复插拔电阻，减少了单个插拔电阻的负担，但它的缺点在于必须预先制作特定的跳线板，从而不利于紧急任务的处理，同时由于不同的产品需预先制作不同的跳线板，因而成本也会有一定程度的增加，并且产品电源引脚的电压调试问题也没有解决。

同样的问题也存在于产品的其它可靠性测试中，如：温湿偏置(THB，Temperature Humidity with Bias)测试。

因此，如何提高可靠性测试的效率，解决产品电源引脚的电压调试问题，已成为业界亟需解决的任务。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于产品可靠性测试板的偏压配置接口，以解决现有技术中偏压配置需不断插拔电阻，效率低下的问题。

本实用新型的另一目的在于提供一种带偏压配置接口的可靠性测试板，以解决现有技术中偏压配置需不断插拔电阻，效率低下的问题。

为解决上述问题，本实用新型提出一种偏压配置接口，所述偏压配置接口包括电源接入端、接地端以及与所述电源接入端及接地端相连的多个十字型五针插针，所述十字型五针插针包括位于中心的偏压输出插针以及均匀分布在所述偏压输出插针四周的高电位插针、低电位插针、第一器件电源插针及第二器件电源插针，所述高电位插针通过第一电阻与所述电源接入端相连，所述低电位插针通过保险丝与所述接地端相连，所述第一器件电源插针通过第二电阻与所述电源接入端相连，所述第二器件电源插针通过第三电阻与所述电源接入端相连，所述偏压输出插针通过两孔式跳线与四周的任意插针做电性连接。

可选的，所述第一电阻为定值电阻。

可选的，所述定值电阻的阻值范围为5～10千欧姆。

可选的，所述第二电阻及所述第三电阻为可调电阻。

可选的，所述可调电阻的阻值范围为0～100欧姆。

可选的，所述保险丝为导线。