[实用新型]一种新型结构的同位素测厚仪探头无效

专利信息
申请号: 201020121152.4 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN201664702U 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 王实;王诚;刘健 申请(专利权)人: 马鞍山市锐泰科技有限公司
主分类号: B21B38/04 分类号: B21B38/04;G01B15/02
代理公司: 马鞍山市金桥专利代理有限公司 34111 代理人: 唐宗才
地址: 243000 安徽省马*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 结构 同位素 测厚仪 探头
【权利要求书】:

1.一种新型结构的同位素测厚仪探头,包括外套(1)、电离室(2)、前置放大板(4)、信号接头(6),其特征是:在所述的外套(1)与电离室(2)之间有一内套(3),内套(3)与外套(1)的内腔之间有间隙,内套(3)与外套(1)均紧固在固定板(7)上;在外套(1)侧壁上部的通孔上安装有一气嘴(5)。

2.根据权利要求1所述的同位素测厚仪探头,其特征是:所述的内套(3)底部的外侧与外套(1)的内腔之间的间隙L=0.20-0.30mm。

3.根据权利要求1或2所述的同位素测厚仪探头,其特征是:所述的内套(3)凹陷在外套(1)的内腔中,其底平面高于外套(1)的底平面。

4.根据权利要求1所述的同位素测厚仪探头,其特征是:在内套(3)内有一电气固定板(10),电离室(2)与前置放大板(4)通过电气固定板(10)连成一体,电气固定板(10)通过弹簧(8)与固定板(7)相连,使得电离室(2)与内套(3)的底平面之间有一定的间隙。

5.根据权利要求1或4所述的同位素测厚仪探头,其特征是:所述的前置放大板(4)通过电路板与高压模块(9)集成一体。

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