[发明专利]矿浆品位在线测量装置无效
申请号: | 201019114043.1 | 申请日: | 2010-02-03 |
公开(公告)号: | CN101788508A | 公开(公告)日: | 2010-07-28 |
发明(设计)人: | 周俊武;赵建军;徐宁;陆博;赵宇;李杰;李建国;缪天宇 | 申请(专利权)人: | 北京矿冶研究总院 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 100044 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 矿浆 品位 在线 测量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种矿浆品位检测技术,尤其涉及一种矿浆品位在线测量装置。
背景技术
选矿行业中矿浆品位的在线分析技术具有广泛的应用空间,利用X射线荧光分析仪进行矿石品位分析,具有诸多优点。
X射线荧光分析仪是一种利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测矿物物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行矿物物质成分分析和化学态研究的矿浆品位分析仪。它主要包括激发、色散、探测、记录及数据处理等单元。
现有技术中的矿浆品位分析仪均采用放射元素做为激发源。
上述现有技术至少存在以下缺点:
激发能力低、测量精度差,而且存在核污染。
发明内容
本发明的目的是提供一种激发能力高、测量精度高,而且不存在核污染的矿浆品位在线测量装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
本发明的矿浆品位在线测量装置,包括矿浆样品承载装置,矿浆流流过所述矿浆样品承载装置,所述矿浆样品承载装置的一侧设有X射线管和X射线探测装置,所述X射线管连接有高压电源;
所述高压电源用于使所述X射线管产生X射线,照射所述矿浆样品承载装置内的矿浆流,所述矿浆流被激发产生的特征X射线被所述X射线探测装置检测到,所述X射线探测装置将检测信号传送给信号处理单元。
由上述本发明提供的技术方案可以看出,本发明所述的矿浆品位在线测量装置,由于包括矿浆样品承载装置,矿浆流流过所述矿浆样品承载装置,所述矿浆样品承载装置的一侧设有X射线管和X射线探测装置,所述X射线管连接有高压电源,通过在X射线管上加以高压电源产生X射线,对矿浆样品承载装置内的矿浆流激发产生特征X射线,并进行检测,激发能力高、测量精度高,而且不存在核污染。
附图说明
图1为本发明矿浆品位在线测量装置的结构原理图。
具体实施方式
本发明的矿浆品位在线测量装置,其较佳的具体实施方式如图1所示:
包括矿浆样品承载装置,矿浆流流过矿浆样品承载装置,矿浆样品承载装置的一侧设有X射线管和X射线探测装置,X射线管连接有高压电源;
高压电源用于使所述X射线管产生X射线,照射矿浆样品承载装置内的矿浆流,矿浆流被激发产生的特征X射线被X射线探测装置检测到,X射线探测装置将检测信号传送给信号处理单元。
信号处理单元对接收到的检测信号进行处理,计算出矿浆中的元素含量并通过人机接口显示或输出。
还可以包括温度控制系统,用于控制所述X光管和X射线探测装置的温度。
本发明通过在X射线管上加以高压电源产生X射线,采用X射线做为激发源,照射到矿浆样品承载器内的矿浆上产生特征X射线。特征X射线被X射线探测装置接收并探测到产生特征X射线对应的信号,特征X射线信号被信号处理单元接收并分析计算出矿样元素的品位,激发能力高、测量精度高,而且不存在核污染。矿浆元素品位通过人机接口显示或输出。温度控制系统控制X光管和X射线探测装置的温度,保障温度恒定,以保障测量稳定。
本发明可以用于在线检测选矿行业中矿浆的元素含量,可同时检测一到多个矿浆样品流,可同时检测每个矿浆样品流中的一到多个元素含量,通过该装置的应用,对于实时监控选矿过程,提高生产指标具有重要意义。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京矿冶研究总院,未经北京矿冶研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201019114043.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。