[发明专利]角度测量系统

权利要求书

1.一种用于确定轴的角度位置的角度测量系统，包括：

第一和第二磁体，其适于根据预定关系协作旋转通过不同的角度距离，其中所述第一磁体耦合到所述轴并且与所述轴一起旋转；

第一和第二角度传感器，其位于不同位置并且适于测量由所述第一和第二磁体产生的磁场方向性；以及

控制器，其适于基于由所述第一和第二角度传感器测量的磁场方向性来确定所述轴的角度位置。

2.根据权利要求1所述的角度测量系统，其中所述轴适于旋转通过大于360度的绝对角度，且其中所述控制器适于基于由所述第一和第二角度传感器测量的磁场方向性来确定所述轴的绝对角度。

3.根据权利要求1所述的角度测量系统，其中围绕所述轴沿径向设置所述第一磁体。

4.根据权利要求3所述的角度测量系统，其中所述第一角度传感器关于所述第一磁体的旋转轴线是固定的。

5.根据权利要求4所述的角度测量系统，其中所述第一角度传感器包括感测区，所述感测区至少基本上处于所述第一磁体的内径和所述第一磁体的外径之间的中心。

6.根据权利要求1所述的角度测量系统，其中所述第二磁体适于围绕旋转轴线旋转，所述旋转轴线至少基本上被定位于所述第二磁体的中心。

7.根据权利要求6所述的角度测量系统，其中所述第二角度传感器关于所述第二磁体的旋转轴线是固定的。

8.根据权利要求7所述的角度测量系统，其中所述第二角度传感器包括感测区，所述感测区至少基本上处于所述第二磁体的旋转轴线的中心。

9.根据权利要求7所述的角度测量系统，其中所述第二角度传感器包括感测区，所述感测区与所述第二磁体的旋转轴线间隔开。

10.根据权利要求1所述的角度测量系统，其中在所述第一和第二磁体的外侧沿径向设置齿，其中所述齿被布置成根据齿轮比来建立预定关系。

11.根据权利要求1所述的角度测量系统，其中如果不是所述第一角度传感器和第二角度传感器二者，则所述第一角度传感器或第二角度传感器中的至少一个包括：

半导体芯片，其包括为协作确定磁场方向性而布置的巨磁阻(GMR)电阻器的布置。

12.一种用于确定轴的角度位置的方法，包括：

在关于第一轴线固定的第一位置测量磁场的方向性，第一磁体围绕所述第一轴线旋转；

在关于第二轴线固定的第二位置测量所述磁场的方向性，第二磁体围绕所述第二轴线旋转；

分析所述磁场在所述第一和第二位置的方向性，以确定所述轴的角度位置。

13.根据权利要求12所述的方法，其中所述第一轴线对应于所述轴的旋转轴线。

14.根据权利要求13所述的方法，其中所述第一位置与所述第一轴线间隔开一段距离。

15.根据权利要求13所述的方法，其中所述第二磁体至少基本上处于所述第二轴线的中心。

16.一种用于确定轴的绝对角度位置的方法，

包括：

在第一位置测量磁场的第一相对角度，其中所述第一相对角度是第一磁体的函数，所述第一磁体围绕所述轴的旋转轴线与所述轴一起旋转；

在与所述第一位置间隔开的第二位置测量所述磁场的第二相对角度，其中所述第二相对角度是第二磁体的函数，所述第二磁体适于以不同于所述第一磁体的方式运动；

基于所述第一和第二相对角度之间的关系确定所述轴的绝对角度位置。

17.根据权利要求16所述的方法，其中所述第一和第二相对角度指定小于360度的角度且其中所述绝对角度位置大于360度。

18.根据权利要求16所述的方法，其中根据所述第一和第二相对角度确定绝对角度位置包括：分析所述第一和第二相对角度，以及识别对于所述第一和第二相对角度的唯一对应绝对角度位置。