[发明专利]用于电路组装的元件选择有效

专利信息
申请号: 201010618324.3 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102164459A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: R·格拉泽 申请(专利权)人: 韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司
主分类号: H05K3/30 分类号: H05K3/30;H05K13/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 曲卫涛;蒋骏
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要:
搜索关键词: 用于 电路 组装 元件 选择
【权利要求书】:

1.一种用于组装电路的方法,包括:

测量保存在仓库中的给定类型的元件的实际值,并将所述测量的实际值存储在计算机化的库存记录中;

确定正在组装的电路的实际性能;

根据所述电路的指定响应和所述确定的实际性能,计算用于组装到所述电路中的一组所述给定类型的元件中的一个或多个的所需值;

通过响应所述计算的所需值搜索所述库存记录,从所述仓库中选择一组所述元件中的一个或多个;以及

将选择的所述一组元件组装到所述电路中。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括从所述库存记录中移除所述选择的元件的所述实际值。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述元件包括电容器,并且其中测量所述实际值包括测量所述电容器的实际电容值。

4.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述实际性能包括测量实际值。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述电路的所述元件包括线圈,并且其中测量所述实际值包括确定所述线圈的实际电感值。

6.根据权利要求4所述的方法,其中测量所述实际值包括测量所述电路的实际电感。

7.根据权利要求1所述的方法,其中选择所述一组元件中的所述一个或多个元件包括选择所述元件中的两个或更多个,使得所述元件中的所述两个或更多个在组装到所述电路中时将一起提供所述所需值。

8.根据权利要求1所述的方法,其中所述指定响应包括共振频率,并且其中计算所述所需值包括根据所述指定共振频率寻找所述所需值。

9.根据权利要求1所述的方法,其中所述仓库包括一个或多个隔室,其中每一个隔室被指定存放相应的类型的元件,其中每一个隔室包括多个位点,并且其中所述方法包括根据所述测量的实际值在每一个位点中存放所述相应的类型的所述元件中的一个或多个。

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述库存记录包括表,其中每一个表都与相应的隔室相关,其中每一个表都包括条目,其中每一个条目都与所述相应的隔室内的相应的位点相关,并且其中将所述测量的实际值保存在所述库存记录中包括将给定隔室内的给定位点中存放的元件的实际值保存在所述相应的表的所述相关条目中。

11.一种用于组装电路的系统,包括:

储存子系统,所述储存子系统被构造为存放一种或多种类型的元件的存货;

测量子系统,所述测量子系统被构造为测量保存在仓库中的给定类型的所述元件的实际值,并确定正在组装的电路的实际性能;

存储器,所述存储器被耦合以存储包含所述测量的实际值的库存记录;和

处理器,所述处理器被构造为根据所述电路的指定响应和所述确定的实际性能,计算用于组装到所述电路中的一组所述给定类型的元件中的一个或多个的所需值,并通过响应所述计算的所需值搜索所述库存记录,从所述仓库中选择用于组装到所述电路中的一组所述给定类型的所述元件中的一个或多个。

12.根据权利要求11所述的系统,其中所述计算机还被构造为从所述库存记录中移除所述选择的元件的所述实际值。

13.根据权利要求11所述的系统,其中存放在所述仓库中的所述元件包括电容器,并且其中所述测量子系统被构造为测量所述电容器的实际电容值。

14.根据权利要求11所述的系统,其中所述测量子系统被构造为测量所述电路的元件的实际值。

15.根据权利要求14所述的系统,其中所述电路的所述元件包括线圈,并且其中所述测量子系统被构造为测量所述线圈的实际电感。

16.根据权利要求14所述的系统,其中所述测量子系统被构造为测量所述电路的实际电感。

17.根据权利要求11所述的系统,其中所述处理器被构造为选择所述元件中的两个或更多个,使得所述元件中的所述两个或更多个在组装到所述电路中时将一起提供所述所需值。

18.根据权利要求11所述的系统,其中所述指定响应包括共振频率,并且其中所述处理器被构造为根据所述指定共振频率计算所述所需值。

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