[发明专利]一种电路测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种电路测试装置。

背景技术

现有的测试仪表面板上会对应测试要求设置相应的测试档位，每个测试档位有相应的测试孔，操作者进行电路测试时，需要对测试孔进行判断，确定测试孔后再将电笔插入测试，当测试孔数量较多时就难免出现插错现象。

为解决上述问题，现有技术提供了一种技术方案，该方案在用户选择不同的测试档时采用凸轮片遮挡其他测试孔而保留相应的测试孔，从而实现了避免表笔误插的目的。

但是，发明人在实施本发明创造过程中，发现上述方案虽然能够防止表笔误插，但至少存在以下缺陷：

测试仪表上仍然需要保留对应不同测试档位的多个测试孔，使用者在执行测试操作时，需要反复插拔表笔来实现换挡(更换测试档位)，操作程序比较繁琐。

发明内容

本发明实施例提供了一种电路测试装置，以解决现有技术由于需要有多个测试孔而导致操作程序繁琐的问题。

本发明实施例提供的技术方案如下：

一种电路测试装置，包括测试装置本体、设置在所述本体上的测试孔连线及设置在所述本体内部的多路电路，

所述测试孔与所述多路电路相连接，所述测试装置还包括设置在所述测试本体内的刀盘及与设置在所述测试本体的壳体上且位于所述刀盘外侧的旋钮，其中：

所述刀盘由多段圆弧状导体组成，各段圆弧状导体之间互不相连，各段圆弧状均由一个半径较小的内导体和一个半径较大的外导体组成，所述内导体和外导体圆心相同，互不相连；

各路电路的两极分别连接同一个圆弧状导体的内导体和外导体；

所述旋钮朝向所述刀盘的一侧设置有接触片，所述接触片随着旋钮同步转动，并同时连接所述接触片所述刀盘上与所述接触片位置对应的圆弧状导体的内导体和外导体。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片设置在旋钮朝向所述刀盘一侧的圆盘上。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片具有两个触脚，能够分别与圆弧状导体的内导体和外导体相接触。

优选的，上述电路测试装置中，所述接触片成倒V字形或倒U字形，开口朝向所述刀盘。

优选的，上述电路测试装置中，所述刀盘呈圆环状。

优选的，上述电路测试装置中，所述多路电路包括：直流电流电路、交流电流电路、直流电压电路、交流电压电路和电阻电路。

与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：

本发明实施例提供的电路测试装置预先将测试孔与各路电路连通，通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，即可切换测试档位，从而使得对各电路的测试能够共用测试孔，操作者在进行电路测试时，只需将表笔插入该测试孔，然后通过旋转旋钮即可实现对多个测试档位的测试，无需反复插拔表笔，操作程序简单，提高工作效率且降低了出错概率。

附图说明

通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

图1为本发明实施例提供的一种电路测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种电路测试装置中电路和测试孔之间的结构示意图1；

图3为本发明实施例提供的一种电路测试装置中连接片与刀盘接触的示意图；

图4为本发明实施例提供的一种电路测试装置中刀盘的结构示意图；

图5-图7为本发明实施例提供的一种电路测试装置的工作示意图；

图8为本发明实施例提供的另一种电路测试装置的刀盘结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

其次，本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不以一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

针对现有技术存在的由于存在多个测试孔，测试人员需要反复插拔表笔，测试步骤繁琐费时的问题，本发明提供了一种解决方案，其基本思想是通过旋钮带动接触片在多段圆弧段导体组成的刀盘上滑动，以切换测试档位。