[发明专利]固定式颗粒研磨装置及其研磨方法有效
申请号: | 201010617100.0 | 申请日: | 2010-12-30 |
公开(公告)号: | CN102528653A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 蒋莉;赵敬民;黎铭琦 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B24B39/06 | 分类号: | B24B39/06;B24B51/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固定 颗粒 研磨 装置 及其 方法 | ||
1.一种固定式颗粒研磨装置,包括:研磨垫,所述研磨垫表面含有固定的研磨颗粒,所述研磨垫的一部分与待研磨的晶圆的待研磨表面相对,其特征在于,还包括:
研磨空闲计时部件,用于计算两次研磨之间的空闲时间,在研磨停止时开始计时,在下次研磨开始时,停止计时;
喷洒部件,用于向研磨垫喷洒液体。
2.依据权利要求1的固定式颗粒研磨装置,其特征在于,所述固定式颗粒研磨装置还包括控制部件,当研磨空闲计时部件的计时达到预定值时,控制部件向喷洒部件发出喷洒信号。
3.依据权利要求1的固定式颗粒研磨装置,其特征在于,所述固定式颗粒研磨装置还包括:研磨垫输入轴,用于将研磨垫输送到研磨盘的表面;研磨垫输出轴,用于将研磨后的研磨垫送离研磨盘的表面。
4.依据权利要求1的固定式颗粒研磨装置,其特征在于,所述固定式颗粒研磨装置还包括:研磨头,研磨头固定待研磨的晶圆;晶圆握把,所述晶圆握把抓住研磨头,在研磨期间,晶圆握把和研磨头会确定晶圆有接触到研磨垫;研磨剂供应路线,用于向待研磨晶圆供应研磨剂;研磨盘,所述研磨盘用于承载所述研磨垫;转盘,所述转盘用于承载所述研磨盘,并带动研磨盘和研磨垫转动。
5.使用权利要求1至4中任意一项所述的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,
其特征在于,包括:对上一片晶圆完成研磨后,开始计时;
当计时达到预定值时,先清除研磨垫表面残留的水,再由喷洒部件向研磨垫喷洒第一溶液,在研磨垫表面形成保护层;
启动对研磨垫表面的保护层的清洗程序;
清洗程序结束后,重新开始研磨。
6.依据权利要求5的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,所述预定值大于1小时。
7.依据权利要求5的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,所述第一溶液为甲烯酸树脂溶液。
8.依据权利要求7的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,所述甲烯酸树脂溶液的浓度是0.01-10%。
9.依据权利要求5的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,当喷洒部件向研磨垫喷洒第一溶液时,研磨垫的转速小于30rpm。
10.依据权利要求8的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,第一溶液的流速为100-2000ml/min,喷洒的时间大于60s。
11.依据权利要求5的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,对研磨垫表面的保护层的清洗程序包括:
向所述研磨垫表面的保护层喷洒第二溶液,所述第二溶液可以溶解所述保护层;
向研磨垫喷洒去离子水,所述去离子水用于冲洗所述第二溶液,以及保护层溶于第二溶液所形成的溶液;
去除研磨垫表面的去离子水。
12.依据权利要求11的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,所述第二溶液包括聚乙二醇、聚丙烯酰胺、聚乙烯亚胺中的任意一种或者组合。
13.依据权利要求11的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,喷洒第二溶液时,研磨垫的转速小于30rpm。
14.依据权利要求11的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,所述第二溶液的流速为100-2000ml/min,喷洒的时间大于60s。
15.依据权利要求11的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,向研磨垫喷洒去离子水时,所述研磨垫的转速为30-80rpm。
16.依据权利要求11的固定式颗粒研磨装置的研磨方法,其特征在于,去除研磨垫表面的去离子水时,研磨垫的转速大于80rpm。
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