[发明专利]老化测试方法无效
申请号: | 201010612740.2 | 申请日: | 2010-12-29 |
公开(公告)号: | CN102128998A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | 马雷 | 申请(专利权)人: | 苏州凌创电子系统有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215021 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种老化测试方法。
背景技术
伴随我国汽车产业呈现爆发式增长,作为汽车零部件的生产工艺流程中必不可少的步骤老化测试方法,显得日益重要。老化测试分为元器件老化和整机老化。特别是对于新开发的产品,需要检验新的元器件或新的整机性能,老化测试指标更高。老化使产品的缺陷在生产线上就暴露出来,如焊接点的可靠性,元器件的可靠性等。产品在设计、材料和工艺方面都可能存在的各种各样缺陷或不良,老化测试就是发现这些问题的有效手段,老化测试使产品性能进入稳定区间后出厂,减少返修率。这就是老化测试的必要性。因其影响产能和产品质量必将引起重视。
基于这个领域的长期调查,我们发现了长期以来国内汽车行业的各种的ECU以及相关的电子零部件的老化测试方法大部分被国外的供应商所拥有,但是由于其国外老化测试方法转让价格昂贵,功能单一、售后服务滞后和成本较大。已经严重影响我国汽车零部件厂商的发展。
发明内容
为了克服现有技术壁垒,满足老化测试方法本土化的需求,进一步提高我们在这个领域内的老化测试技术水平,针对这个市场需求和特点设计出本发明的老化测试方法。
为达到以上目的,本发明提供了一种老化测试方法。本发明公开了一种老化测试方法,该方法实现采用抗老化和耐腐蚀性机械结构,依托PXI总线架构,在LabVIEW和TestStand平台上开发应用程序驱动高速的CAN卡,模拟采集卡,通过国际通用VPC接口进行通讯和采集。测试的数据可以上传至生产线的Tracibility系统。工控机还配置了丰富的串口,方便连接单片机进行测试控制。
本发明的进一步改进在于,采用了抗老化和耐腐蚀性机械结构。
本发明的进一步改进在于,采用了PXI总线架构,在LabVIEW和TestStand平台上开发应用程序。
本发明的进一步改进在于,测试数据可追溯性。
本发明的进一步改进在于,采用VPC接口。
本发明的有益效果是:采用了较好的抗老化和耐腐蚀性机械结构使得测试系统更加稳定;采用了PXI总线架构,在LabVIEW和TestStand平台上开发应用程序,使得测试高度集中,可灵活地兼容任何其他语言环境;测试的数据可以上传系统,大大提高了生产线可追溯性;采用国际通用的VPC接口,不仅可以实现稳定的连接,还可以很好兼容其他硬件等优点。
附图说明
附图1为本发明一种一种老化测试方法的结构示意图。
具体实施方式
下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见附图1,这种老化测试方法的实现架构图,以下就整个架构上进行研究:
1、提高老化测试方法中采用机械结构的抗老化和耐腐蚀性老化测试中的机械结构由于试验环境经常在高温高湿与低温之间的交替使用,并在高温或者低温工作很长一段时间,因此其对应的机械的结构一定要稳定,使其在高低温下机械的变形的尺寸一定保证在测试产品所规定范围的基础上。据业内人员反应一般正常老化设备的机械结构在使用二年后就要更换一次,机械硬件成本较大。我们经过反复的试验和总结,得出一套较好的抗老化和耐腐蚀的机械加工和处理的方法。使得老化测试的机械可以经过长时间的试验。大大减少老化测试的机械使用成本。
2、提高老化测试的集成度和灵活性
应用开发式的,多厂商标准的外围设备互连总线测量架构(PXI,GPIB,USB,RS232C等),实现混合传输多路信号。
应用集成和标准的模块设计后,通过更换适配器便可以轻松实现同一测试平台对多个测试对象的检测,无需重新搭建新的测试系统。
应用的图形化开发软件LabVIEW和行业领先的测试管理软件TestStand编写测试程序,可以兼容任何语言编写的代码。同时系统可以根据实际测试的需要,选择性的搭建实时性较好的嵌入式系统和FPGA模块使得老化测试设备的测试时间大大减少。
3、提高测试数据的可追溯性
传统老化测试的数据仅仅具有判断合格和不合格的作用。我们的老化测试每次的测试数据都将保存在指定的数据库里,不仅可以判断产品的是否合格,还可以作为产品更多老化分析的依据,为客户分析产品和提高产品性能的提高重要的数据参考。
4、增强测试系统标准性
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