[发明专利]数据存储装置测试仪

权利要求书

1.一种用于测试数据存储装置即DSD的DSD测试仪，所述DSD测试仪包括控制电路，所述控制电路可操作用于：

从所述DSD接收DSD日志，其中所述DSD日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目；

执行与所述错误状况关联的命令序列；以及

响应于所执行的命令序列确定所述DSD是否有缺陷。

2.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述错误状况识别在读取操作期间检测的边缘数据扇区。

3.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述命令序列包括所述读取操作。

4.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述命令序列包括在所述读取操作之前执行的命令。

5.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述命令序列包括在所述读取操作之后执行的命令。

6.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述控制电路还可操作用于在执行所述命令序列之前将通道参数边缘化。

7.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述控制电路还可操作用于在执行所述读取操作之前将通道参数边缘化。

8.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述命令序列包括至少一个写入命令，所述控制电路还可操作用于：

从被所述写入命令识别的数据扇区读取数据；以及

当将所述写入命令作为所述命令序列的一部分执行时写入所述读取数据到所述数据扇区。

9.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述DSD包括与所述读取操作关联的重试日志，所述重试日志识别在重试操作期间执行的多个命令，所述控制电路还可操作用于：

从所述DSD读取所述重试日志；以及

执行由所述重试日志识别的所述多个命令。

10.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中所述DSD包括与所述读取操作关联的重试日志，所述重试日志识别在重试操作期间执行的多个命令，所述控制电路还可操作用于：

修改由所述重试日志识别的所述多个命令；以及

执行所修改的多个命令。

11.根据权利要求10所述的DSD测试仪，其中所述控制电路还可操作用于将所修改的多个命令发送到所述DSD制造商。

12.根据权利要求2所述的DSD测试仪，其中：

所述DSD包括识别由所述DSD执行的多个顺序命令的全局日志；以及

与所述读取操作关联的所述命令序列包括由所述全局日志识别的所述顺序命令的至少两个子集。

13.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述控制电路还可操作用于将所述确定的结果发送到所述DSD的制造商。

14.根据权利要求1所述的DSD测试仪，还包括显示屏，其中所述控制电路还可操作用于在所述显示屏上显示所述确定的结果。

15.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述控制电路还可操作用于响应于先进技术附件命令中嵌入的销售商专用命令而执行所述命令序列。

16.根据权利要求1所述的DSD测试仪，还包括多个舱，其中所述控制电路还可操作用于检测所述DSD何时已经插入到其中一个舱中。

17.根据权利要求1所述的DSD测试仪，还包括可操作用于插入到所述DSD的通用串行总线端口中的通用串行总线钥匙。

18.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述DSD包括磁盘。

19.根据权利要求1所述的DSD测试仪，其中所述DSD包括半导体存储器。

20.一种操作用于测试数据存储装置即DSD的DSD测试仪的方法，所述方法包括：

从所述DSD接收DSD日志，其中所述DSD日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目；

执行与所述错误状况关联的命令序列；以及

响应于所执行的命令序列确定所述DSD是否有缺陷。

21.根据权利要求20所述的方法，其中所述错误状况识别在读取操作期间检测的边缘数据扇区。

22.根据权利要求21所述的方法，其中所述命令序列包括读取操作。