[发明专利]利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法无效
申请号: | 201010605875.6 | 申请日: | 2010-12-15 |
公开(公告)号: | CN102157361A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 颜伟;杜彦东;韩伟华;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;G03F7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 光子 衍射 技术 制备 半导体 电极 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体材料与器件制造领域,具体涉及利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法。
背景技术
所谓光子束超衍射纳米加工技术是一种新兴的利用双光子效应和激光与物质作用的阈值效应的飞秒脉冲激光双光子微纳加工技术。
激光加工技术作为重要的先进制造技术之一已广泛应用于众多的工业制造领域.利用激光直写技术进行材料加工时,其所能达到的加工分辨率一直受到经典光学理论衍射极限的限制,难于进行纳米尺度的加工。飞秒脉冲激光的出现不仅为研究光与物质相互作用的超快过程提供了手段,也为发展先进的微纳米加工技术提供了不可多得的光源.近年来,作为最新的激光加工技术之一的飞秒脉冲激光双光子微纳加工技术已成为国际上研究的热点。
激光双光子微纳加工与单光子激光加工有很大区别。单光子激光加工过程中所使用的光子能量较高,当入射光经透镜聚焦到材料表面或内部时,光子所到之处均可以进行单光子吸收过程,其光与物质发生相互作用的最小区域受到光学衍射极限的限制。而双光子过程中所使用光子的能量大大低于材料的吸收带隙,而材料的双光子吸收效率正比于入射光强的平方,属于光学非线性效应,其发生双光子过程的作用区域不仅取决于材料的非线性光学特性大小,还取决于光与物质发生双光子过程的能量密度的高低,即引发双光子聚合反应的激光阈值。在进行双光子聚合的过程中,其光聚合反应并不在光束通过的所有区域发生,而仅仅在达到一定阈值,可以使引发剂产生双光子吸收引发聚合反应的区域进行。根据材料的非线性光学特性大小,通过控制所使用的激光强度,可以使达到双光子聚合阈值的范围大大小于通过透镜聚焦而得到的光斑直径,所获得的双光子聚合区域可以远远小于光的衍射极限,在原理上甚至可以达到单分子尺度。因此,利用双光子过程以及诱导此过程发生时光与物质相互作用的阈值效应,突破经典光学衍射极限的限制实现飞秒激光直写技术的纳米尺度加工是完全可行的。
在2001年日本科学家利用飞秒脉冲激光双光子聚合技术首次突破衍射极限获得120nm的加工分辨率后,最近我国科学家实现了15nm线宽的纳米尺度加工分辨率。该技术利用双光子效应和激光与物质作用的阈值效应,成功地实现了纳米尺度的激光直写加工分辨率,可望在功能性微纳器件制备等纳米技术领域发挥重要作用,具有广阔的应用前景。
三维T型栅电极是目前制作高电子迁移率晶体管的标准器件结构。因为对T型栅的栅足尺寸要求极为严格(要求在100nm以下),传统光刻技术制作困难,所以目前T型栅的制作基本都是由电子束曝光和纳米压印来完成的。但是电子束曝光的制作成本太高,而且不能大面积生产,效率低下。纳米压印技术需要制作压印模板,模板制作成本高,而且模板制作完成之后无法修改,所以灵活性差。所以T型栅的制作一直困扰着工艺人员。
本发明公开一种利用光子束超衍射纳米加工技术制备高电子迁移率晶体管三维T型栅的方法,该方法采用图形直写,随意修改版图,同时精度高、面积大、可重复、低成本、效率高。可以代替电子束曝光技术和纳米压印技术来制备高电子迁移率晶体管的T型栅电极。
发明内容
本发明的目的在于提供一种利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法,其广泛适用于包括GaN基、GaAs基和InP基的高电子迁移率晶体管(HEMT)的三维T型栅的制备。主要特点是:飞秒脉冲激光双光子微纳加工工艺代替传统的图形曝光,电子束曝光,离子束刻蚀,纳米压印等工艺在晶片上直接描绘图案,灵活性高,同时精度高、面积大、可重复、低成本、效率高。
本发明提供一种利用光子束超衍射技术制备半导体T型栅电极的方法,包括如下步骤:
步骤1:在待制备T型栅的样品上面淀积介质钝化层;
步骤2:在介质钝化层上涂覆抗蚀剂;
步骤3:利用光子束超衍射纳米加工技术,在抗蚀剂上曝光,显影,定影,形成栅足图形;
步骤4:用RIE刻蚀技术,将栅足图形下面的介质钝化层刻蚀,形成沟槽;
步骤5:将残余的抗蚀剂洗去,在介质钝化层上涂覆光刻胶;
步骤6:利用光子束超衍射纳米加工技术,在光刻胶上曝光,显影,定影,形成栅头图形;
步骤7:在光刻胶上蒸发栅极金属;
步骤8:去除光刻胶,在介质钝化层的沟槽和栅头图形上形成三维T型的金属电极。
本发明的优点在于采用飞秒激光制作三维T型栅结构,操作简单,直接高效,无需制作掩模板,随意修改曝光版图,同时曝光精度高,图形特征尺寸小,曝光总面积大,设备运行成本低。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造