[发明专利]二硅化钨退火方法无效
申请号: | 201010605215.8 | 申请日: | 2010-12-27 |
公开(公告)号: | CN102530955A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 张花威;孙晓峰;高永亮 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司 |
主分类号: | C01B33/06 | 分类号: | C01B33/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二硅化钨 退火 方法 | ||
1.一种二硅化钨退火方法,其特征在于,包括以下步骤:
退火,并控制进舟温度低于600℃。
2.根据权利要求1所述的二硅化钨退火方法,其特征在于,在对WSi2进行退火之前,包括以下步骤:
通过LPCVD法先淀积形成二硅化钨,其x值在2.6~2.8;
第一次退火,使得x值降低至为2.2~2.3,得到二硅化钨。
3.根据权利要求2所述的二硅化钨退火方法,其特征在于,在x值在2.6~2.8时,电阻率为700~900μΩ·cm。
4.根据权利要求2所述的二硅化钨退火方法,其特征在于,在x值在2.2~2.3时,电阻率小于70μΩ·cm。
5.根据权利要求1所述的二硅化钨退火方法,其特征在于,所述退火在炉管中完成。
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