[发明专利]电压裕度测试装置和电压裕度测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电压裕度测试装置和应用该电压裕度测试装置的电压裕度测试方法。

背景技术

电脑主板测试过程中，通常需要一参考电压VREF作为参考点。为了验证电脑主板的品质，需要调节该参考电压VREF的大小，进行电脑主板参考电压裕度测试，即电脑主板正常工作允许参考电压的上、下限范围。

现有技术中一般采用手动调节分压电阻或者可调电阻器来调节该参考电压VREF的大小。如果该参考电压VREF的大小超过电脑主板参考电压裕度，电脑主板报错后需重新调节分压电阻或者可调电阻器进行测试。如此，测试效率较低且测试精度较低。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测试方便的电压裕度测试装置和电压裕度测试方法。

一种电压裕度测试装置，其用于测试一待测单元的待测电压端的电压的上限值和下限值。该电压裕度测试装置包括一选择按钮模组、一微控制单元和一数字电位器。该选择按钮模组用于选择增加或减小该待测电压端的电压的一单位值；根据该选择按钮模组的选择，该微控制单元调节该数字电位器电阻的大小使该待测电压端的电压增加或减小一单位值；当该微控制单元侦测到该待测单元工作异常时，该微控制单元调节该数字电位器电阻的大小从而控制该待测电压端的电压回调一单位值，直至该待测单元正常工作。

一种电压裕度测试方法，其用于测试一待测单元的待测电压端的电压的上限值和下限值，该电压裕度测试方法包括以下步骤：

通过一选择按钮模组选择增加或减小该待测电压端的电压的一单位值；

根据该选择按钮模组的选择，一微控制单元调节一数字电位器电阻的大小使该待测电压端的电压增加或减小一单位值；

当该微控制单元侦测到该待测单元工作异常时，该微控制单元调节该数字电位器电阻的大小从而控制该待测电压端的电压回调一单位值，直至该待测单元正常工作。

与现有技术相比，所述的电压裕度测试装置和电压裕度测试方法，操作简单，节省测试时间，且测量精度高。

附图说明

图1是本发明一较佳实施方式的电压裕度测试装置和待测单元的模块图。

图2是图1所示的电压裕度测试装置和待测单元的电路图。

主要元件符号说明

电压裕度测试装置            100

选择按钮模组                11

第一按钮                    111

第二按钮                    113

微控制单元                  13

数字电位器                  15

待测单元                    17

具体实施方式

请参阅图1，本发明的一较佳实施方式的电压裕度测试装置100包括一选择按钮模组11、一微控制单元13和一数字电位器15。该选择按钮模组11用于选择测试电压裕度的上限值或下限值，并将选择结果发送给该微控制单元13。该数字电位器15和一待测单元17电连接，且该数字电位器15和该待测单元17分别与该微控制单元13电连接。本实施方式以测试该待测单元17的参考电压的电压裕度为例详细说明。

请参阅图2，该选择按钮模组11包括一第一按钮111和一第二按钮113，该第一按钮111和该第二按钮113分别经由一限流电阻R接地。该微控制单元13为单片机(Single Chip Microc omputer)，是将计算机的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、随机存储器(Random Access Memory，RAM)、只读存储器(Read OnlyMemory，ROM)、定时计数器和多种输入/输出(I/O)接口集成在一片芯片上，所形成的芯片级的计算机。该微控制单元13包括多个接口P0.0、P1.0、P2.0～P2.5。该接口P0.0与该待测单元17的信号端Sig电连接，该接口P1.0与该待测单元17的复位端Reset电连接。该接口P2.0与该待测单元17的报错反馈端ERR电连接。该接口P2.1～P2.3与该数字电位器15电连接。该接口P2.4与该第一按钮111电连接，该接口P2.5与该第二按钮113电连接。