[发明专利]全自动光纤偏振特性分析系统

权利要求书

1.一种全自动光纤偏振特性分析系统，其特征在于，包括偏振光产生装置和检偏装置两部分，偏振光产生装置和检偏装置通过待测光纤(001)相连接，所述偏振光产生装置包括激光器(101)、第一光纤适配器(102)、第一自聚焦透镜(103)、第一磁旋光装置、起偏器(106)、第二磁旋光装置、第二自聚焦透镜(109)、第二光纤适配器(110)、第一驱动信号合成器(111)、第二驱动信号合成器(112)和第一计算机(113)，所述第一磁旋光装置和第二磁旋光装置均由电磁线圈和设置在线圈内部的晶体组成，其中：激光器(101)输出的激光依次经过第一光纤适配器(102)、第一自聚焦透镜(103)后转换成平行光，平行光通过第一磁旋光装置中的晶体，第一磁旋光装置调整其出射光的主偏振轴方向与起偏器(106)的偏振主轴方向一致，通过第一磁旋光装置中晶体的出射光经过起偏器(106)后输出线偏振光，线偏振光依次通过第二磁旋光装置中的晶体、第二自聚焦透镜(109)和第二光纤适配器(110)后输入给检偏装置，第二磁旋光装置中的晶体的出射线偏光的偏振方向与外接的待测光纤(001)双折射主轴方向保持一致；所述第一计算机(113)通过控制第一驱动信号合成器(111)来调节第一磁旋光装置中的电磁线圈中的电流进而控制第一磁旋光装置输出光方向，第一计算机(113)通过控制第二驱动信号合成器(112)来调节第二磁旋光装置中的电磁线圈中的电流进而控制第二磁旋光装置输出光方向。

2.根据权利要求1所述的一种全自动光纤偏振特性分析系统，其特征在于，所述检偏装置包括第三光纤适配器(201)、第三自聚焦透镜(202)、第三磁旋光装置、第一检偏器(205)第三自聚焦透镜(206)、第一光电探测器(207)、第三驱动信号合成器(208)、计算机(209)和数据采集卡(210)，所述第三磁旋光装置由电磁线圈和设置在线圈内部的晶体组成，其中：偏振光产生装置的输出光依次经过第三光纤适配器(201)、第三自聚焦透镜(202)后被转变成平行光，平行光依次经过第三磁旋光装置、检偏器(205)后被第一光电探测器(207)接收，第一光电探测器(207)将每个偏转角度下出射光在检偏器(205)的偏振主轴上的光强分量转变为电信号，并通过数据采集卡(210)传送给第二计算机(209)，第二计算机(209)对其进行处理得到入射光的主偏振方向；

所述第二计算机(209)通过控制第三驱动信号合成器(208)来调节第三磁旋光装置中的电磁线圈中的电流进而控制第三磁旋光装置输出光方向。

3.根据权利要求1所述的一种全自动光纤偏振特性分析系统，其特征在于，所述检偏装置包括沿光的传播方向依次设置的第四光纤适配器(301)、第五自聚焦透镜(302)、第四磁旋光装置、1/4玻片(305)、第五磁旋光装置、第二检偏器(308)、第六自聚焦透镜(309)和第二光电探测器(310)，第二光电探测器(310)的输出端通过数据采集卡(313)与第三计算机(314)相连，

所述第三计算机(314)通过控制第四驱动信号合成器(311)来调节第四磁旋光装置中的电磁线圈中的电流进而控制第四磁旋光装置输出光方向；所述第三计算机(314)通过控制第五驱动信号合成器(312)来调节第五磁旋光装置中的电磁线圈中的电流进而控制第五磁旋光装置输出光方向。

4.根据权利要求1或权利要求2或权利要求3所述的一种全自动光纤偏振特性分析系统，其特征在于，所述各磁旋光装置均有一个电磁线圈和设置在电磁线圈内部的YIG晶体组成，电磁线圈与YIG晶体同轴布置。

5.根据权利要求1或权利要求2或权利要求3所述的一种全自动光纤偏振特性分析系统，其特征在于，所述上述各磁旋光装置均由一YIG晶体和四个电磁线圈组成，四个电磁线圈对称分布于YIG晶体的上、下、前、后四个方向，并且四个电磁线圈所围形状的轴线与YIG晶体轴线重合。