[发明专利]适于检测通过传送能量进行的攻击的电子部件有效

专利信息
申请号: 201010593229.2 申请日: 2010-12-14
公开(公告)号: CN102129593A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 尼古拉斯·莫林;休格斯·蒂埃博德拉克劳伊 申请(专利权)人: 欧贝特科技公司
主分类号: G06K19/073 分类号: G06K19/073
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 法国勒瓦*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 适于 检测 通过 传送 能量 进行 攻击 电子 部件
【说明书】:

技术领域

发明属于保护电子部件领域。

更具体地,本发明涉及一种适于检测主动攻击的电子部件。

背景技术

将主动攻击与被动攻击进行区分是常用手段。

被动攻击是攻击者仅仅满足于观察部件活动的攻击。

相反,主动攻击是通过注入故障从而攻击者在部件正在执行敏感算法或命令时在物理上干扰部件的攻击。

在部件处,这种干扰表现为能量的传送(例如光或电磁能量)。这种能量传送造成电流的增大,从而将部件置于非预期和脆弱的状态。

已知响应于通过来自激光器的光能来注入故障,通过分析智能卡的行为来评估智能卡的安全性。

图1示出了这种评估的原理。

参照图1,部件10串联连接在具有电阻R的两个电阻器之间,一个电阻连接至地,而另一个连接至正电压Vcc,然后,使用激光脉冲来照射部件。

在光干扰时刻并贯穿其持续时间,这种能量传送造成部件上游(Vcc)和下游(Gnd)的过剩电流。这种过剩电流可以由两个原因造成:

·它可以由光脉冲引入,其中光产生与电子一样多的空穴;这些空穴流向正电压Vcc,电子流向地,从而影响电流i1和i2;

·它也可以由部件中的短路电流引起,短路电流本身是由光脉冲造成的。

目前,没有已知方法来检测这种攻击。

文献EP 1 804 199描述了一种用于检测攻击的方法,所述攻击在于改变正电压Vcc。不幸的是,该方法不用于检测通过传送能量进行的攻击,这种攻击与上述激光攻击具有相同类型,并且对电压Vcc没有作用。

发明内容

本发明寻求提供一种适于检测通过传送能量进行的攻击的部件。

更具体地,本发明提供了一种电子部件,包括:

·参考获得装置,用于获得被称为参考幅度的物理幅度,所述幅度可动态调整,并且表示所述部件的预期活动;

·比较器装置,适于将所述参考幅度与表示所述部件的实际活动的、相同类型的幅度进行比较;以及

·检测器装置,适于根据所述比较的结果来检测攻击。

相应地,本发明提供了一种用于保护电子部件的保护方法,包括:

·参考获得步骤,用于获得“参考”物理幅度,所述幅度可动态调整以表示所述部件的预期活动;

·比较步骤,将所述参考幅度与表示所述部件的实际活动的、相同类型的幅度进行比较;以及

·检测步骤,根据所述比较步骤的结果来检测攻击。

一般地,本发明寻求检测通过部件的电流的任何异常增大。

通过示例,可以通过将表示部件实际消耗的电流的电流与可动态调整并且表示部件的预期活动的可变参考电流进行比较,来实现本发明。

在特定实施例中,本发明的电子部件包括:逻辑单元,适于产生幅度与上述可变参考电流相等的电流。

更准确地,如果在正常使用期间,部件的消耗在很大程度上取决于其在执行命令时的活动,则本发明提出,通过根据部件在给定时刻的预期活动来调整参考幅度,从而执行动态监控。

因此,在给定时刻,本发明的部件监控其电流消耗的水平是否超过阈值,其中阈值根据芯片的活动而动态变化。如果在给定时刻超过阈值,则意味着部件正受到通过传送能量进行的攻击,并且可以触发警报以对此进行响应。

在具体实施例中,电子部件包括至少一个模块,在给定时刻,参考电流表示在该时刻活动的模块的最大预期消耗。

在具体实施例中,逻辑单元具有与部件所具有的所述模块的数目相同数目的并联电阻器,每个电阻器经由开关连接至所述模块之一,并且其大小被确定为使得当所述模块活动时,流过所述电阻器的电流表示该时刻所述模块的预期最大消耗。

在具体实施例中,电子部件模块包括:处理器,适于根据与逻辑单元的电阻器相关联的模块的活动或非活动特性来设置与所述电阻器相关联的开关。

在一种变型中,开关可以通过硬件装置来设置。

在具体实施例中,比较器装置由存在输入电容器的寄存器构成,所述输入电容器适于根据表示实际消耗电流的电流是否超过参考电流来进行充电或放电。

在本发明的具体实施例中,表示实际消耗电流的电流是通过实际消耗的电流的电流镜来获得的。

在本发明的具体实施例中,通过用于检测目的的电流镜的电流等于部件实际消耗的电流。

在一种变型中,通过电流镜的电流小于部件实际消耗的电流,并与部件实际消耗的电流成比例,从而能够使用远小得多的电流电平来检测故障,以限制电流镜所消耗的电流量。

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