[发明专利]双相机组合对准式条带测试分选机

说明书

技术领域

本发明涉及半导体测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种双相机组合对准式条带测试分选机。

背景技术

在半导体测试封装行业中，条带测试分选机是一种对晶体管进行测试、并根据测试结果将晶体管中的合格产品筛选出的一种设备。其工作过程为：晶体管由UV(ultraviolet紫外线)膜框上料，晶体管进行批号确定和方向定位后进入到测试平台上，通过该测试平台上的X-Y-Z方向的驱动马达，驱动测试平台移动实现将测试平台上的晶体管与设置在测试平台上方的盖板上的测试针进行对准，对准后测试平台在驱动马达的作用下上移，实现测试针与晶体管的管脚对位接触，并对测试针进行检测，上述盖板的上表面设置的测试板和测试主机主要是控制测试针进行工作，并将检测结果进行记录，检测完毕后，根据测试结果，采用机械手把晶体管中合格的产品选出，再进行光检，以便进入下一工序进行编带。

上述条带测试分选机在工作的过程中，需要将测试针和晶体管进行对准后测试针与晶体管的管脚接触才能实现检测。虽然上述盖板上设置有光检系统，可以实现对测试平台上的晶体管进行位置检测并其与测试针实现对准，但是，在实际的对准过程中，很难做到完全的对准，对准精确度不高。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种双相机组合对准式条带测试分选机，以提高条带测试分选机在工作过程中测试针与晶体管之间对准的精确度。

为了达到上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

一种双相机组合对准式条带测试分选机，包括：

盖板，其下表面上设置有测试座，所述测试座上设置有测试针；

设置在所述盖板一侧且获取所述晶体管具体位置影像的顶部对焦相机；

设置在所述盖板下方的测试平台，所述测试平台上设有用于驱动其在空间X-Y-Z方向移动的驱动装置；

设置在该测试平台上的条带，该条带上的引线框上设置有晶体管；

设置在所述测试平台的一侧且获取所述测试针位置影像的底部对焦相机，所述顶部对焦相机和底部对焦相机分布在所述测试平台的两侧；

与所述顶部对焦相机、底部对焦相机和驱动装置相连，并根据所述顶部对焦相机和底部对焦相机获取的影像驱动所述驱动装置的控制器。

优选的，上述双相机组合对准式条带测试分选机中，所述驱动装置包括分别驱动所述测试平台沿空间X-Y-Z三个方向移动的三个驱动马达。

由上述技术方案可知，本发明实施例提供的双相机组合式条带测试分选机中，在盖板的一侧设置有顶部对焦相机，该顶部对焦相机可以获取晶体管具体位置的影像；在测试平台的一侧设置有底部对焦相机，该底部对焦相机获取测试针的具体位置影像，在检测的过程中，测试平台移动的过程中将安装在盖板上的测试针的位置确定后，控制器接收底部对焦相机和顶部对焦相机所采集的影像，并根据底部对焦相机获取的测试针的位置影像和顶部对焦相机获取的晶体管的位置影像，驱动测试平台移动实现将晶体管与测试针的对准。本发明实施例提供的双相机组合对准式条带测试分选机采用顶部对焦相机和底部对焦相机采集影像，通过控制器根据上述两者的影像实现测试针和晶体管的对准，提高了测试针与晶体管在测试过程中的对准精确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的双相机组合对准式条带测试分选机的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供了一种双相机组合对准式条带测试分选机，提高了条带测试分选机在工作过程中测试针与晶体管之间对准的精确度。

请参考附图1，图1为本发明实施例提供的双相机组合对准式条带测试分选机的结构示意图。

本发明实施例提供的双相机组合对准式条带测试分选机，包括盖板1、顶部对焦相机7、测试平台5、条带6、底部对焦相机4和控制器(图中未示出)，其中：

盖板1的下表面上设置有测试座2，测试座2上设置有测试针3；