[发明专利]半导体C∕B(E)间电压测试电路无效
| 申请号： | 201010576184.8 | 申请日： | 2010-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN102565497A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 杜忠勤 | 申请（专利权）人： | 西安华澳电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人： | 李罡 |
| 地址： | 710075 陕西省西安市太*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 电压 测试 电路 | ||
1.一种半导体C∕B(E)极间电压测试电路，其特征在于是：包括C极电压采集分压电路、B(E)极电压采集分压电路、C∕B(E)极间测压仪表放大器、1/2分压网络和输出跟随器电路，所述C极电压采集分压电路和B(E)极电压采集分压电路的输入端分别连接C极和B(E)极，输出端分别连接跟随器1和跟随器2的输入端，跟随器1和跟随器2的输出端分别连接仪表放大器的两个输入端，仪表放大器输出端接分压网络，分压网络的输出端连接INBS模块，INBS模块连接ADC单元。
2.根据权利要求1所述的半导体C∕B(E)极间测试电压电路，其特征在于是：所述的C极电压采集分压电路由不少于7个阻值电阻串联组成电阻网络，所述的电阻网络与稳压网络和开关网络链接。
3.根据权利要求1所述的半导体C∕B(E)极间测试电压电路，其特征在于：所述的C极电压采集分压电路与跟随器1间设置有两个继电器通道，所述的跟随器1的正/负输入端接有双向二极管。
4.根据权利要求1所述的半导体C∕B(E)极间测试电压电路，其特征在于：所述的继电器K1，K2和K3为SPDT继电器。
5.根据权利要求1所述的半导体C∕B(E)极间测试电压电路，其特征在于：所述的C极采集分压电路的三只并联电阻上设置并联防振电容。
6.根据权利要求1所述的半导体C∕B(E)极间测试电压电路，其特征是：所述的分压电阻和测试电阻为无感(或甚小电感)精密电阻。
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