[发明专利]连接件的制造方法有效
| 申请号: | 201010573199.9 | 申请日: | 2010-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN102487002A | 公开(公告)日: | 2012-06-06 |
| 发明(设计)人: | 李敏 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/3105 | 分类号: | H01L21/3105;H01L21/3213 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
| 地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 连接 制造 方法 | ||
1.一种连接件的制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底上形成有多个待连接器件;对所述衬底进行硅离子注入;形成保形覆盖所述待连接器件的停止层;在所述停止层上覆盖绝缘层;图形化所述绝缘层,在所述绝缘层中、位于待连接器件的上方形成开口;向所述开口中沉积第一金属材料,通过退火工艺使第一金属材料转换成为金属硅化物;向所述开口中的金属硅化物上沉积第二金属材料。
2.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述硅离子注入的步骤中,离子注入的深度在的范围内。
3.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,向所述开口中沉积第一金属材料之后,在所述第一金属材料上形成保护层。
4.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述退火工艺包括第一次退火处理和第二次退火处理,所述第二次退火的温度大于第一次退火的温度。
5.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,通过光刻和蚀刻法对所述绝缘层进行图形化处理,形成位于绝缘层中的开口,直至所述开口露出停止层。
6.如权利要求3所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述保护层的材料为钛或氮化钛。
7.如权利要求5所述的连接件的制造方法,其特征在于,在形成开口之后、向开口中填充金属材料之前,对所述开口进行预清洗步骤去除停止层。
8.如权利要求7所述的连接件的制造方法,其特征在于,在预清洗步骤后、向开口中填充金属材料之前,通过去水汽步骤去除开口中的水分。
9.如权利要求4所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述退火工艺采用尖峰退火技术或快速退火方式。
10.如权利要求4所述的连接件的制造方法,其特征在于,其特征在于,在第一次退火处理和第二次退火处理之间,还包括选择性蚀刻的步骤,用于去除未反应的第一金属材料。
11.如权利要求9所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述第一金属材料为镍,第一次退火的温度小于400℃,退火时间为20~50s;第二次退火的温度在400~500℃的范围内,退火时间为20~50s。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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