[发明专利]连接件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201010573199.9 申请日: 2010-12-03
公开(公告)号: CN102487002A 公开(公告)日: 2012-06-06
发明(设计)人: 李敏 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L21/3105 分类号: H01L21/3105;H01L21/3213
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 连接 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种连接件的制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底上形成有多个待连接器件;对所述衬底进行硅离子注入;形成保形覆盖所述待连接器件的停止层;在所述停止层上覆盖绝缘层;图形化所述绝缘层,在所述绝缘层中、位于待连接器件的上方形成开口;向所述开口中沉积第一金属材料,通过退火工艺使第一金属材料转换成为金属硅化物;向所述开口中的金属硅化物上沉积第二金属材料。

2.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述硅离子注入的步骤中,离子注入的深度在的范围内。

3.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,向所述开口中沉积第一金属材料之后,在所述第一金属材料上形成保护层。

4.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述退火工艺包括第一次退火处理和第二次退火处理,所述第二次退火的温度大于第一次退火的温度。

5.如权利要求1所述的连接件的制造方法,其特征在于,通过光刻和蚀刻法对所述绝缘层进行图形化处理,形成位于绝缘层中的开口,直至所述开口露出停止层。

6.如权利要求3所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述保护层的材料为钛或氮化钛。

7.如权利要求5所述的连接件的制造方法,其特征在于,在形成开口之后、向开口中填充金属材料之前,对所述开口进行预清洗步骤去除停止层。

8.如权利要求7所述的连接件的制造方法,其特征在于,在预清洗步骤后、向开口中填充金属材料之前,通过去水汽步骤去除开口中的水分。

9.如权利要求4所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述退火工艺采用尖峰退火技术或快速退火方式。

10.如权利要求4所述的连接件的制造方法,其特征在于,其特征在于,在第一次退火处理和第二次退火处理之间,还包括选择性蚀刻的步骤,用于去除未反应的第一金属材料。

11.如权利要求9所述的连接件的制造方法,其特征在于,所述第一金属材料为镍,第一次退火的温度小于400℃,退火时间为20~50s;第二次退火的温度在400~500℃的范围内,退火时间为20~50s。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010573199.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top