[发明专利]一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法无效
| 申请号： | 201010572562.5 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102478659A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 陈宝维;张志勇 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 个人 剂量计 能量 分档 刻度 测量 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种个人剂量计能量分档刻度测量的方法，包括如下步骤：
(1)将个人剂量计分别置于低能标准场和高能标准场，分别得到相应的刻度系数，将两个刻度系数存入剂量计中；
(2)对个人剂量计所应用的放射性场所的射线能量范围进行预先估计；
(3)根据射线能量范围的估计情况，调用个人剂量计内不同档的刻度系数，进行辐射剂量的测量。
2.如权利要求1所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于：步骤(1)中，低能标准场采用的辐射质为N-40，平均能量为33KeV；高能标准场采用137Cs或60Co标准源。
3.如权利要求1所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于：步骤(2)中，估计放射性场所的射线能量范围是80KeV以下为主，还是50KeV以上为主，还是50KeV-80KeV之间为主。
4.如权利要求3所述的个人剂量计能量分档刻度测量的方法，其特征在于：步骤(3)中，如果估计放射性场所的射线能量范围是80KeV以下为主，则选择低能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV以上为主，则选择高能档的刻度系数；如果估计放射性场所的射线能量范围是50KeV-80KeV之间为主，则可以任意选择低能档的刻度系数或高能档的刻度系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国辐射防护研究院，未经中国辐射防护研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010572562.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：通信系统及通信控制方法
- 下一篇：有机硅改性的脂肪酸、其制备方法和用途
