[发明专利]散热测试装置与其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种散热测试装置，尤其涉及一种散热测试装置与其测试方法。

背景技术

近年来随着电脑科技的突飞猛进，使得电子产品(例如电脑主机)的运作速度不断地提高，并且电子产品内部的电子元件的发热功率亦不断地攀升。为了预防电子产品内部的电子元件过热，而导致电子元件发生暂时性或永久性的失效，所以提供足够的散热效能至电子产品的电子元件将变得非常重要。

以中央处理单元(central processing unit，CPU)为例，中央处理单元在高速运作之下，当中央处理单元的本身的温度一旦超出其正常的工作温度范围时，中央处理单元极有可能会发生运算错误，或是暂时性地失效，如此将导致电脑主机当机。此外，当中央处理单元的本身的温度远远超过其正常的工作温度范围时，甚至极有可能损坏中央处理单元内部的电晶体，因而导致中央处理单元永久性失效。

因此，电脑主机板上的主要电子元件，例如中央处理单元等，通常需要散热系统(heat-dissipating system)进行散热。在散热系统设计完成后，需进行散热测试以便得知散热系统是否能有效地降低电子产品内的电子元件产生的温度。然而，一般的测试过程都需要人工进行操作，如此将会增加测试时间以及人力成本。

发明内容

本发明提供一种散热测试装置与其测试方法，由此节省测试时间以及人力与元件使用成本。

本发明提供一种散热测试装置的测试方法，其中散热测试装置适于配置机箱且包括多个发热元件以及至少一散热风扇，此测试方法包括下列步骤。首先，侦测发热元件的温度，以取得平衡温度。接着，判断平衡温度是否大于预设温度。当平衡温度大于预设温度时，产生控制信号给散热风扇，以增加散热风扇的转速，并回到侦测发热元件的温度的步骤。当平衡温度小于或等于预设温度时，输出测试结果。

在本发明的一实施例中，上述发热元件为电阻。

在本发明的一实施例中，上述增加散热风扇的转速以步进的方式增加。

在本发明的一实施例中，上述平衡温度为发热元件的温度的变化程度在一段时间内未超过预设范围的温度。

在本发明的一实施例中，上述在产生该控制信号给该散热风扇，以增加该散热风扇的转速之前之前还包括下列步骤。首先，侦测并判断散热风扇的转速是否为最大额定转速。当散热风扇的转速不为最大额定转速时，则进入侦测发热元件的温度的步骤。当散热风扇的转速为最大额定转速时，则产生警告信息。

本发明提出一种散热测试装置，适于配置于一机箱，此散热测试装置包括多个发热元件、至少一散热风扇以及侦测及控制单元。散热风扇用以对发热元件进行散热，侦测及控制单元耦接散热风扇以及发热元件，侦测发热元件的温度，取得一平衡温度，并依据平衡温度产生一控制信号给散热风扇，以调整散热风扇的转速。其中，当侦测及控制单元侦测到平衡温度大于预设温度，则产生控制信号以增加散热风扇的转速，当侦测及控制单元侦测到平衡温度小于或等于预设温度，输出测试结果。

在本发明的一实施例中，增加散热风扇的转速以步进的方式增加。

在本发明的一实施例中，上述散热测试装置还包括电源供应器。电源供应器耦接发热元件与该侦测及控制单元，依据该侦测及控制单元所产生的一调整信号，提供多个不同的电压至发热元件。

在本发明的一实施例中，上述发热元件为电阻。

在本发明的一实施例中，当侦测及控制单元侦测到平衡温度大于预设温度时，侦测及控制单元进一步侦测并判断散热风扇的转速是否为最大额定转速，当侦测及控制单元判断散热风扇的转速不为最大额定转速时，则产生控制信号调整散热风扇的转速，当侦测及控制单元判断散热风扇的转速为最大额定转速时，产生警告信息。

本发明通过侦测及控制单元侦测发热元件的温度，并依据发热元件的温度来调整散热风扇的转速，以便于得知散热风扇否能将发热元件的温度降低至安全的范围。如此一来，可有效地减少测试时间以及人力成本。另外，本发明利用电阻作为发热元件，以模拟电脑系统内的中央处理器、存储器等元件，将可有效地减少电路使用成本。

为让本发明上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为本发明的一实施例的散热测试装置的方块图。

图2为本发明的一实施例的散热测试装置的测试方法流程图。

主要附图标记说明：

100：散热测试装置；       110_1～110_n：发热元件；