[发明专利]显示装置及显示装置的控制方法

说明书

相关申请的交叉参考

本申请要求2009年12月4日向日本专利局提交的日本专利申请JP2009-276945的优先权，在此将该在先申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及显示装置和显示装置的控制方法。

背景技术

最近，确保显示装置中显示元件的可靠性已变得重要。特别是，如同过去一样，确保与显示性能有关的结构和机械可靠性仍是必要的。

例如，在日本未审查专利申请公布公告No.2005-173193中，提出了如下技术：为抑制由电流量所引起的温度上升而导致的元件寿命的降低，通过使用诸如可用来确定装置的显示状态的图像数据之类的数据以确定图像的状态，来控制水平扫描线点亮或不点亮以便抑制过电流。

然而，在日本未审查专利申请公布公告No.2005-173193中所披露的技术中，执行十分复杂的控制以组合栅极信号和源极信号，以及执行诸如控制发光周期之类的多种反馈控制操作，因而使用了多种算法。因此，存在为确保可靠性而制造成本上升的问题。另外，使用复杂算法进行控制引起驱动IC的功耗上升，进而导致功率性能降低。

在日本未审查专利申请公布公告No.2007-240617中，披露了如下技术：使用极化探测装置的光学检测单元，通过定量地检测由显示装置上的小压力所导致的变形的变化量作为入射光的极化状态的变化，对诸如折射率之类的光学特性进行控制。

在日本未审查专利申请公布公告No.2007-240617所披露的技术中，当存在来自其他光源(例如太阳光或室内荧光灯)的相对强的外部光的光散射或由外部光的反射所引起的噪声时，难以检测由变形引起的折射率的较小变化。

发明内容

在这里公开了多个发明，当具有柔性的显示装置中存在弯曲时，所述多个发明能够通过响应于弯曲量执行显示控制来确保在弯曲期间的显示可靠性。

在一个实施例中，一种装置包括可弯曲的基板、发光元件、传感器和显示控制器。所述发光元件安装在所述基板上。所述传感器用于检测所述基板的弯曲。所述显示控制器用于基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发光元件。

在一个实施例中，一种显示装置包括显示单元和显示控制器。所述显示单元具有显示至少一幅图像的显示区域。所述显示单元包括可弯曲的基板、安装在所述基板上的发光元件和用于检测所述基板的弯曲的传感器。所述显示控制器基于由所述传感器检测的所述基板的所述弯曲至少部分地控制所述发光元件。

在一个实施例中，一种显示装置包括显示单元。所述显示单元具有显示至少一幅图像的显示区域。所述显示单元包括可弯曲的基板、显示元件和传感器。所述基板能够在多个不同位置弯曲或曲折。所述显示元件安装在所述基板上。所述传感器用于在所述基板弯曲时检测所述基板的弯曲的量。基于所述基板的所述弯曲的量控制所述显示区域的尺寸。所述显示区域包括有源显示元件。

在一个实施例中，一种方法包括检测显示单元的可弯曲基板的弯曲的量，及基于所述基板的所述弯曲至少部分地控制有源发光元件的显示区域的尺寸。

如上所述，本发明的实施例能够提供显示装置及显示装置的控制方法，该显示装置能够在使显示装置弯曲和/或未弯曲时通过响应于柔性显示装置的弯曲的量执行显示控制来确保显示可靠性。

附图说明

图1是表示根据本发明实施例的显示装置的前表面的平面图。

图2是示意性表示显示装置的横剖面的图。

图3是表示偏移传感器设于显示单元的后表面的示例的图，以平面图的形式示出了显示装置的后表面。

图4是表示偏移传感器设于显示单元的后表面的示例的图，示意性示出了显示装置的横剖面。

图5是表示显示装置的弯曲状态的图，示意性示出了设有显示单元的前表面弯曲成凹面时的状况。

图6是示意性表示设有显示单元的表面弯曲成凸面时的状况的图。

图7是示出根据实施例的显示装置的功能性结构的框图。

图8是示出根据实施例的控制单元的功能性结构的框图。

图9是表示对应于LUT的示例的信息的图，LUT规定了响应于电阻变化量的图像显示区域。

图10是图示用于界定显示区域控制量的LUT的另一示例的图。

图11是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸的示例的图。

图12是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸的示例的图。

图13是图示响应于显示装置的弯曲的量来控制显示单元的图像显示区域的尺寸的示例的图。