[发明专利]地质体结构面三维激光扫描点云识别方法无效

专利信息
申请号: 201010560140.6 申请日: 2010-11-25
公开(公告)号: CN102096944A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 赵志祥;董秀军;王小兵;李树武;冯秋丰;杨贤;李常虎;王文革;杨晓辉;陈楠;左三胜;李雪健;张晓凤;杨丽萍;张靖宇 申请(专利权)人: 中国水电顾问集团西北勘测设计研究院;成都理工大学
主分类号: G06T17/05 分类号: G06T17/05
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 张培勋
地址: 710065 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 质体 结构 三维 激光 扫描 识别 方法
【权利要求书】:

1.地质体结构面三维激光扫描点云识别方法,其特征是:

1)确定需要扫描的地质体结构面范围;

2)通过三个不在同一直线上的点坐标确定需要扫描的地质体结构面范围的一个面;

3)通过三维激光扫描地质体结构面的三个点三维座标;获得一个平面方程;

4)对确定的结构面的粗糙起伏和地形,通过三维激光扫描结构面出露面上的所有点;

5)重新选择下一个地质体结构面,如果下一个面不存在到第6步;如果下一个结构面存在,返回步骤2);

6)对上述获取的每一个平面方程,提取结构面的产状参数,然后进行结构面拟合,给出扫描的地质体结构面三维图。

2.根据权利要求1所述的地质体结构面三维激光扫描点云识别方法,其特征是:所述的通过平面方程,提取结构面的产状参数,获得拟合平面的是通过如方程完成:

Ax+By+Cz+D=0                (1)

其中A、B、C、D为方程参数(A、B、C不同时为零,且为该平面法向量坐标n={A、B、C});

根据平面的一般式方程(1),我们可以推导出以下结构面产状参数的计算公式:

当在三个参数都不为“0”时;

其中,E、S、W、N分别方位东、南、西、北;

以上讨论的是结构面在一般情况下,即A、B、C三个参数都不为“0”时;而在结构面参数A、B、C存在为”0”或者“1”的情况时,其结构面的产状参数计算。

3.根据权利要求1所述的地质体结构面三维激光扫描点云识别方法,其特征是:所述的获取拟合平面时,对每个三点平面需要进行拼接、滤波,构成完整的三维结构面。

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