[发明专利]齿轮测量系统、齿轮测量方法及专用手持活动式光学逆反射器有效
申请号: | 201010550636.5 | 申请日: | 2010-11-19 |
公开(公告)号: | CN102059588A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | 史苏存;曲兴华;牛维汉;林超;黄勇;段玲 | 申请(专利权)人: | 二重集团(德阳)重型装备股份有限公司;天津大学;中国计量技术开发总公司;重庆大学 |
主分类号: | B23Q17/20 | 分类号: | B23Q17/20;B23Q17/24;G01B11/24 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所 51124 | 代理人: | 王睿;刘世平 |
地址: | 618013 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 齿轮 测量 系统 测量方法 专用 手持 活动 光学 逆反 | ||
1.齿轮测量系统,包括全局测量设备(12)、前端测量设备(4)以及分别与所述的全局测量设备(12)和前端测量设备(4)相连的数据处理系统,其特征在于:所述全局测量设备(12)采用多路激光干涉追踪系统,该多路激光干涉追踪系统包括至少三台激光干涉追踪仪(1),与所述至少三台激光干涉追踪仪(1)配合使用从而对被测齿轮(3)进行空间定位的手持活动式光学逆反射器(13),以及用于与前端测量设备(4)的可活动部分刚性联接的固定式光学逆反射器(16),所述手持活动式光学逆反射器(13)包括反射镜(8)以及与所述反射镜(8)联接并用于使该手持活动式光学逆反射器(13)在被测齿轮(3)的基准面上沿特定方向运动的定位结构。
2.如权利要求1所述的齿轮测量系统,其特征在于:所述多路激光干涉追踪系统采用四台激光干涉追踪仪(1),这四台激光干涉追踪仪(1)分别设置在靠近由这四台激光干涉追踪仪(1)所构成的测量区间(2)的四个边角的位置,所述前端测量设备(4)与该被测齿轮(3)均位于所述的测量区间(2)的内侧。
3.如权利要求1所述的齿轮测量系统,其特征在于:所述定位结构包括用于与被测齿轮(3)的中心孔(17)的孔壁相接触的定位本体(15),以及设置在该定位本体(15)的上端并安装有所述反射镜(8)的定位座(9),使用时当所述定位本体(15)沿着被测齿轮(3)的中心孔(17)的孔壁做圆周运动时,所述定位座(9)的下端面与被测齿轮(3)的基准端面(18)保持紧贴状态。
4.如权利要求3所述的齿轮测量系统,其特征在于:所述定位本体(15)包括上端安装有所述定位座(9)的支撑杆(10),以及设置在该支撑杆(10)下端的旋转体(11),该定位本体(15)通过所述的旋转体(11)与被测齿轮(3)的中心孔(17)的孔壁接触,并且该旋转体(11)与所述反射镜(8)同轴设置。
5.如权利要求4所述的齿轮测量系统,其特征在于:所述旋转体(11)呈圆盘状。
6.如权利要求1~5中任意一项权利要求所述的齿轮测量系统,其特征在于:所述前端测量设备(4)包括正交坐标测量装置(7)以及安装在该正交坐标测量装置(7)的活动主轴(5)上的激光位移传感器(6)。
7.齿轮测量方法,该方法采用了将全局测量和前端测量相结合的组合测量体制,并具体包括如下步骤:
a、通过至少三台激光干涉追踪仪(1)以及配合使用的手持活动式光学逆反射器(13)对被测齿轮(3)进行空间定位,建立被测齿轮坐标系σ1;其中,所述手持活动式光学逆反射器(13)包括反射镜(8)以及与所述反射镜(8)联接并用于使该手持活动式光学逆反射器(13)在被测齿轮(3)的基准面上沿特定方向运动的定位结构;
b、将固定式光学逆反射器(16)加装在前端测量设备(4)的可活动部分上,然后启动该前端测量设备(4)对被测齿轮(3)进行前端测量,同时通过所述的至少三台激光干涉追踪仪(1)实时追踪固定式光学逆反射器(16)的运动轨迹从而获得该固定式光学逆反射器(16)在被测齿轮坐标系σ1中的各瞬时坐标值;
c、通过数据处理系统对前端测量设备(4)的测量数据以及在步骤b中获得的固定式光学逆反射器(16)在被测齿轮坐标系σ1中各瞬时的坐标值进行综合数据处理,得到齿轮测量结果。
8.如权利要求8所述的齿轮测量方法,其特征在于:所述前端测量设备(4)采用激光三角测量法对被测齿轮(3)的轮廓进行激光扫描从而实现所说的前端测量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于二重集团(德阳)重型装备股份有限公司;天津大学;中国计量技术开发总公司;重庆大学,未经二重集团(德阳)重型装备股份有限公司;天津大学;中国计量技术开发总公司;重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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