[发明专利]多功能可变换模块测试装置

说明书

技术领域

本发明主要是揭示一种多功能可变换模块测试装置，尤其是指一种借助主计算机整合数台仆计算机的多功能可变换模块测试装置。

背景技术

待测物使用于电子产品，常见有使用于计算机、手机与数码照相机…等等。待测物生产流程的最后一个步骤为测试，借助测试装置检测待测物的内部电路是否正常，进一步区分良品与不良品。

传统的半导体测试装置采用数个测试卡连接于一台计算机，而这台计算机控制所有个测试卡对所有的芯片进行测试，当数片测试卡将数据传递至计算机时，计算机容易受限于其运算能力而影响读取并判断测试卡的测试结果的速度，当所有的测试卡同步将数据传给计算机时，计算机容易因为负荷过大而产生当机或者无法立即提供测试结果，当然，这样的计算机也无法进行额外的数据整合的工作。

再者，传统的半导体测试装置的显示单元设置在检测座且显露于检测座表面，显示单元是电连接测试基板的每一测试端口，用以显示测试后待测盘上所对应的芯片的测试结果，显示单元包括一显示芯片测试进度的进度指示器、一显示芯片测试时间的时间指示器，及一相对应显示该待测盘的芯片测试结果好坏的测试指示器。其中，测试指示器具有多个相对应显示所述芯片测试结果好坏的指示灯，如果芯片测试结果良好则亮绿灯，芯片测试结果有问题则亮红灯。测试人员必须拿着待测盘，同时利用目测比对测试指示器的红灯所对应的待测盘上的芯片，再挑出测试有问题的芯片，这样的比对方式容易因为测试人员比对时的误差而发生挑错芯片的缺失，除此之外，测试人员需要重复抬头与低头的动作，而容易产生疲劳，这样的测试方式容易让测试人员因为疲劳而无法正确无误的比对，当比对错误时，会让之前所进行的测试全都功亏一篑，因此如何正确无误的挑出不良品同时符合快速的要求，对于测试装置而言是相当重要的一环。

因此，发明人希望能够确实解决上述问题。

发明内容

本发明所欲解决的技术问题是在于针对现有技术存在的缺失，提供一种多功能可变换模块测试装置。

本发明主要改良的技术手段为，借助主计算机能够整合该第一、第二、第三与第四仆计算机，并以该第一、第二、第三与第四仆计算机控制该工作站进行检测工作，而该主计算机负责数据整合，借助这种分工合作的方式提高工作效率且简化作业程序，达到半自动的功能。且该主计算机储存有所有待测物的测试结果，这种集中储存方式能够有效的进行良率的统计与分析，更有利于后续的追踪。

本发明次要改良的技术手段为，该主计算机将获得的测试结果显示在该屏幕，该屏幕的外表面能够供该承载盘体放置，该屏幕显示该主计算机整合的测试结果并显示于该区块，该屏幕利用显示亮光于该区块而透光于该承载盘体的方式达到告知检测人员的目的，进一步使检测人员借助该区块所显示的亮光而判断位于该承载盘体上的待测物为良品或不良品。

其它目的、优点和本发明的新颖特性将从以下详细的描述与相关的附图更加显明。

附图说明

图1：为本发明多功能可变换模块测试装置的方块图。

图2：为本发明多功能可变换模块测试装置的立体外观图。

图3：为本发明多功能可变换模块测试装置令一视角的立体外观图。

图4：为本发明承载盘体承载待测物的示意图。

图5：为本发明主计算机、数台仆计算机与切换器的方块图。

图6：为本发明承载盘体置于屏幕上检测待测物的示意图。

图7：为本发明屏幕显示亮光而表示良品与不良品。

主要组件符号说明：

1   待测物      1A  第一群组      1B  第二群组

1C  第三群组    1D  第四群组      10  承载盘体

100 容置部      11  第一区容置群  12  第二区容置群

13  第三区容置群 14  第四区容置群  20  工作站

21  第一工作区  22  第二工作区    23  第三工作区

24  第四工作区  31  第一仆计算机  32  第二仆计算机

33  第三仆计算机34  第四仆计算机  40  主计算机

41  集线器      42  屏幕          421 区块 

43  输入装置    44  切换器。 

具体实施方式

有关本发明所采用的技术、手段及其功效，兹举一较佳实施例并配合附图详述如后，此仅供说明之用，在专利申请上并不受此种结构的限制。