[发明专利]一种闭环自适应测距工作方法

权利要求书

1.一种闭环自适应测距工作方法，其特征在于：在每次开机时，设备会自动发出数据进行多次测试并自动配置修正值，由信号处理模块模拟闭环发射接收过程，将测试信号由发射通道发送至天线端口，控制信号反馈回接收通道，形成闭环测试；信号处理模块对测试信号的延迟进行动态测量，将上述每个可能发生的时间延迟总和计算出来，即T。

2.根据权利要求1所述的闭环自适应测距工作方法，其特征在于：当正式测距时，将总时间T（总）减去测出的延迟时间T(延迟时间)，再乘以光速C就是测距精度L,公式如下：

L=（T（总）－T(延迟时间)）×C；

其中所测定的整个延迟T(延迟时间)等于（int-发射端，transp-接收端）：

T(延迟时间)=（TX处理延迟）int+(距离延迟)int->transp+(射频/中频延迟)transp+（同步处理延迟）transp+（处理与稳定时间）transp+（确定性延迟）transp+（随机延迟）transp+（TX处理延迟）transp+（距离延迟）transp-> int+（射频/中频延迟）int+（同步处理延迟）int。

3.根据权利要求1所述的闭环自适应测距工作方法，其特征在于：基带信号处理模块经过FPGA处理得到时间差，再由DSP从FPGA中读取时间差（T（总）－T(延迟时间)）即可。