[发明专利]用于数据恢复的系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于识别存储介质上的可重现的(reproducible)位置的系统和方法，并且更具体的，涉及用于基于检测到的介质缺陷识别存储介质上的可重现的位置的系统和方法。

背景技术

硬盘典型地包括一定数目的用户数据区，在它们之前是同步信息，所述同步信息包括前同步码(preamble)和数据同步码型(data sync pattern)。前同步码被用于在异步读取期间使相位和频率同步，而数据同步码型被用于限定一系列用户数据的起始点。在操作中，电路搜索数据同步码型，并处理在与该数据同步码型相关的位置处获得的一系列顺序接收的数据采样。有时，数据同步码型丢失，导致重试(retry)，其中使用一种或更多种搜索方法来识别数据同步码型。这些搜索方法就电路和时间而言常常是成本较高的。此外，在有些情况下，所述搜索方法并不能够识别数据同步标记，导致数据损失。

因此，至少出于上述理由，在本领域中存在对更先进的从存储介质恢复数据的系统和方法的需求。

发明内容

本发明涉及用于识别存储介质上的可重现的位置的系统和方法，并且更具体的，涉及用于基于检测到的介质缺陷识别存储介质上的可重现的位置的系统和方法。

本发明的多种实施例提供了用于识别存储介质上的可重现的位置的电路。这些电路包括介质缺陷检测器和锚固定(anchor fixing)电路。介质缺陷检测器可操作用于识别介质缺陷，而锚固定电路可操作用于识别与介质缺陷有关的可重现的位置。在有些情况下，介质缺陷检测器包括被调谐用于2T码型的离散傅里叶变换电路。在其它情况下，介质缺陷检测器包括前同步码结束检测器电路。

在上述实施例的某些实例中，介质缺陷检测器可操作用于利用由存储介质获得的一系列的数据采样来识别介质缺陷。在这些实例中，所述电路进一步包括数据处理电路，其可操作用于利用强迫数据同步标记处理所述系列的数据采样的子集，所述强迫数据同步标记距离所述介质缺陷的位置一固定的距离。在某些这样的实例中，所述电路进一步包括同步强迫电路，其可操作用于反复地每当所述数据处理电路不收敛时识别强迫数据同步标记，以及用于在所述数据处理电路收敛时存储所述强迫数据同步标记。在特定的实例中，所述电路进一步包括数据缓存器，其存储所述强迫数据同步标记，所述强迫数据同步标记可用在随后的从所述存储介质的读取上以指示所述存储介质上的可解码数据集的开始。

本发明的其它实施例提供了用于识别存储介质上的可重现的位置的方法。所述方法包括：接收由所述存储介质获得的一系列的数据采样；利用所述系列的数据采样识别所述存储介质上的介质缺陷；以及固定或识别所述存储介质上的与所述介质缺陷有关的可重现的位置。在有些情况下，所述方法进一步包括：利用所述位置作为用于可解码数据集的开始的基准，对所述系列的数据采样的子集应用解码算法。在某些其中解码算法收敛的这样的实例中，所述方法进一步包括：在存储器中存储强迫数据同步标记。所述强迫数据同步标记指示所述位置，并且可用在随后的从所述存储介质的读取上以指示所述存储介质上的可解码数据集的开始。

在上述实施例的多种实例中，所述位置是第一位置，并且所述方法进一步包括：利用所述第一位置作为用于可解码数据集的开始的基准，对所述系列的数据采样的第一子集应用解码算法。在解码算法不收敛的情况下，所述方法进一步包括：固定所述存储介质上的与所述介质缺陷有关的第二位置，所述第二位置是可重现的；以及利用所述第二位置作为用于所述可解码数据集的开始的基准，对所述系列的数据采样的第二子集应用所述解码算法。在某些这样的情况中，利用所述第二位置的所述解码算法的应用收敛。在这些情况中，所述方法可以进一步包括：将强迫数据同步标记存储在存储器中。所述强迫数据同步标记指示所述第二位置，并且可用在随后的从所述存储介质的读取上以指示所述存储介质上的可解码数据集的开始。在一个特定情况中，与所述第一位置相比，所述第二位置远离所述介质缺陷。

在上述实施例的多种实例中，所述解码算法是低密度奇偶校验算法。在上述实施例的一个或更多个实例中，接收由存储介质获得的一系列的数据采样包括从数据缓存器获得所述系列的数据采样。在有些情况下，所述方法进一步包括：从所述存储介质获得信息；以及基于所述信息产生所述系列的数据采样。

本发明的其它实施例还提供了硬盘驱动系统，其包括存储介质、介质缺陷检测器、以及锚固定电路。所述介质缺陷检测器可操作用于利用由所述存储介质获得的一系列的数据采样识别所述存储介质上的介质缺陷，而所述锚固定电路可操作用于识别与所述介质缺陷有关的位置。在此情况下，所述位置是可重现的。